Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #9114413 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für überlegene Bilder einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Es ist in der Lage, sowohl konventionelle als auch Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie. Das Gerät enthält einen InspectEDX-Detektor, der in der Lage ist, energiedispersive Röntgenspektren (EDX) zu erzeugen, die eine verbesserte Elementaranalyse ermöglichen. Es ist mit einer motorisierten Bühne ausgestattet, ideal zum Scannen großer Flächen oder für Präzisionsbewegungen. Optik von FEI CM200 bieten eine Reihe von Vergrößerungen von 10 Minuten bis 500.000x mit der MOOG Option. Die Beschleunigungsspannung ist von 2 bis 30 kV Inkrementen programmierbar. Das System bietet auch hohe und niedrige Vakuumbetrieb mit einem CS bei 150 l/s. PHILIPS CM 200 enthält eine Standard-Digitalkamera. Dies kann sowohl für die Bildgebung als auch für die Videoaufzeichnung verwendet werden. Der Kryodetektor ist in der Lage, sekundäre Elektronenbilder mit einer Live-Zählrate von bis zu 10MHz zu erfassen. (Millisekunde) Belichtungszeit kann auf Millisekunden-Bereich verkürzt werden, um schnelle Ereignisse zu erfassen. FEI CEOS Star Energieverteilungseinheit ermöglicht Spektren mit ausgezeichneter Zeilenauflösung zu erhalten. Die Maschine verfügt über eine vollständig einstellbare Steuerung mit manueller und computerbasierter Steuerung. Die Probenvorbereitung wird durch die Verwendung grafischer Benutzeroberflächen auf Computerbildschirmen optimiert, die es einem Benutzer ermöglichen, Parameter anzupassen. Modulares Zubehör und Zubehör sind verfügbar, um die Probenbeschichtung, Oberflächenbehandlung und Reinigung zu erleichtern. Schließlich stehen sowohl Software- als auch Hardwaretools zur Verfügung, um erweiterte Funktionen zu erreichen. Dazu gehören Integration mit anderen Instrumenten, Fernzugriff und eine breite Palette von Software für Messquantifieng, Compositing und Manipulation von Bilddaten. Insgesamt ist FEI CM 200 ein anspruchsvolles Werkzeug, das den Anforderungen vieler Mikroskopisten gerecht wird.