Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #9189104 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die zuverlässige Charakterisierung von Materialien bis hin zu Nanometer-Auflösungen ausgelegt ist. Die hochmoderne Bildgebungstechnologie bietet einen umfassenden Satz analytischer Werkzeuge zur Untersuchung biologischer und industrieller Materialien. FEI CM200 verwendet eine Elektronenquelle mit einem Filament, erhitzt, um Elektronen in einer Vakuumkammer zu emittieren. Um Bilder mit höchster Auflösung und bestem Kontrast zu erhalten, wird eine Abtastspule verwendet, bei der ein Elektronenstrahl über die Probe gescannt wird. Zusätzlich zur dynamischen Bildbildung können Daten von verschiedenen Entdeckern gesammelt werden, um die Beispieloberfläche compositional Informationen zu analysieren. Das SEM ermöglicht eine breite Palette von bildgebenden Fähigkeiten, von objektivbegrenzter Auflösung bis zur Oberflächenelementabbildung. Alle bildgebenden Optionen wurden entwickelt, um eine schnelle und hochpräzise Analyse zu ermöglichen. Seine Bildauflösung bei höchster Vergrößerung erreicht bis zu 1 Nanometer, mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, um die Bedienung zu erleichtern. PHILIPS CM 200 verwendet fortschrittliche automatisierte Bühnentechnologie für eine präzise autonome Positionierung der Probe, so dass sie ihre Position schnell anpassen und große Arrays von Bildern erfassen kann, um einen vollständigen Überblick zu erzeugen. Die 5-Achsen-Tomographie ermöglicht das Kippen und Drehen der Probe in verschiedenen Winkeln für die dreidimensionale Bildgebung. Es unterstützt auch die Korrelation für Dual-Imaging, die zwei verschiedene Arten von Bildern miteinander vergleicht. Neben der Bildgebung bietet CM200 eine Vielzahl von Analysewerkzeugen zur weiteren Charakterisierung von Proben. Dazu gehören die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS) und die Elektronenrückstreuung (EBSD). EDS und WDS ermöglichen eine präzise elementare Analyse und Abbildung, und EBSD bietet Informationen über kristallographische Struktur. PHILIPS/FEI CM 200 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop zur Analyse einer Reihe von Materialien auf Nanometerebene. Seine erweiterte bildgebende Fähigkeit, gepaart mit umfassenden analytischen Werkzeugen machen es zu einem geeigneten Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.