Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #9232065 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für fortgeschrittene bildgebende und analytische Anwendungen entwickelt wurde. Es ist weit verbreitet für nanoskalige Bildgebung und Submikron-Oberflächenanalyse. Mit einer 200 kV feldemittierenden Elektronenquelle können FEI- CM200 eine hochauflösende Bildgebung liefern und gleichzeitig Astigmatismus reduzieren. Sein ClearCMOS™ Detektor bietet simultane sekundäre und rückgestreute Elektronen für mehrkanalige Bildgebung, die ein schnelleres Signal-Rausch-Verhältnis und eine bessere Datenqualität ermöglichen. PHILIPS CM 200 verfügt über eine einzigartige Auto-Kontrast-Funktion zur Verbesserung der Bildqualität, so dass Benutzer Proben ohne vorherige Kenntnis des Materials oder seiner Eigenschaften analysieren können. CM 200 ist mit fortschrittlichen Rechenkapazitäten konzipiert, so dass Wissenschaftler und Ingenieure Bilder schneller und mit höherer Genauigkeit aufnehmen können. Das Mikroskop verfügt über einen High-Speed X, Y-Scan, einen großen Z-Scan-Bereich und eine maximale Scanrate von bis zu 1KHz. Stereoskopische Bildgebung, 3D-Oberflächenbildgebung und mehrfache Bildgebungsmodalitäten werden ebenfalls unterstützt. PHILIPS CM200 wurde entwickelt, um die Anforderungen einer Vielzahl von Materialanalysen zu erfüllen, einschließlich Halbleiterfehleranalyse, fortschrittliche 3D-Oberflächencharakterisierung, Fehlerlokalisierung und -analyse und Leckstrom-Bildgebung. Die fortschrittlichen Automatisierungstechnologien von CM200 vereinfachen das Laden und Ausrichten von Beispielen, sodass Benutzer bis zu 24 Beispiele in einer einzigen Sitzung abbilden können. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten bietet der PhilipPHILIPS/FEI CM 200 eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten, einschließlich Elementaranalyse, Abbildung der chemischen Zusammensetzung, Niederschlagsüberwachung und vieles mehr. Das Mikroskop unterstützt auch eine Vielzahl von Detektoren und bietet Anwendern die Flexibilität, den richtigen Detektor für bestimmte Anwendungen zu wählen. FEI CM 200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das fortschrittliche bildgebende und analytische Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Seine eingebaute Automatisierung macht es einfach zu bedienen und seine erweiterten Fähigkeiten machen es zu einer idealen Wahl für die Erzielung der höchsten Auflösung Bilder und genaue Musteranalyse.