Gebraucht PHILIPS / FEI DB237 #293620721 zu verkaufen

PHILIPS/FEI DB237 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Untersuchung mikroskopischer Strukturen und Oberflächen verwendet wird. Es ist mit einer hochauflösenden Feldemissionskathode ausgestattet, die einen Elektronenstrahl mit hoher Energie und kleinem Durchmesser erzeugt und eine einfache und genaue Abbildung der Probe ermöglicht. Der Elektronenstrahl ist auf die Probe gerichtet, die sich auf einem halbmagnetischen Probenhalter befindet, wodurch ein großer Bereich von Neigungswinkeln möglich ist und der Benutzer die Möglichkeit hat, Merkmale der Probe aus verschiedenen Winkeln zu beobachten. Darüber hinaus umfasst das Gerät einen sekundären und rückgestreuten Elektronendetektor (BSE), der Informationen über die Struktur von Materialien im Nanometermaßstab liefert. Dies in Kombination mit der Fähigkeit, Elektronen aus dem Primärelektronenstrahl zu sammeln, ermöglicht es dem Benutzer, die Oberflächentopographie mit einer Auflösung auf atomarer Ebene zu messen. Weitere Merkmale des Systems sind die digitale Bildvideobearbeitung zur Vergrößerung, Schwenkung und Pixelmittelung. Darüber hinaus bietet FEI DB237 Niedervakuum-Modi, die eine Abbildung von nichtleitenden Materialien wie biologischen Proben und Polymeren ermöglichen. Darüber hinaus bietet das Gerät In-Column Energy Filtering Spectrometry (EELS) für elementare Kartierung und chemische Bildgebung und eignet sich somit für verschiedene Forschungsaufgaben. Die integrierte Software verbessert die Fähigkeiten von PHILIPS DB237 weiter und bietet dem Anwender verschiedene Werkzeuge für Bildanalyse, 3D-Oberflächenrekonstruktion, quantitative Analyse und Bildmanipulation. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche der Maschine vereinfacht die Bedienung und ermöglicht es Forschern, dieses SEM optimal zu nutzen. Abschließend ist DB237 ein Hochleistungs-Kompakt-SEM, das es Anwendern ermöglicht, Proben auf atomarer Ebene zu beobachten und zu analysieren. Es kombiniert einen hochauflösenden Elektronenstrahl, BSE-Detektor und integrierte Software, um Forschern die Möglichkeit zu geben, Oberflächentopographie und elementare Kartierungsaufgaben mit einer Auflösung im Nanometermaßstab durchzuführen.