Gebraucht PHILIPS / FEI EM 400 #9298535 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI EM 400 (SEM) ist ein leistungsstarkes Untersuchungswerkzeug, mit dem Mikrostrukturen in ultrahoher Auflösung betrachtet und analysiert werden. Es verwendet eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung (BSEI), sekundärer Elektronenbildgebung (SEI) und EDX (energiedispersive Röntgenspektroskopie). Durch die Kombination der Fähigkeiten dieser drei Techniken ist FEI EM 400 in der Lage, Forschern eine Fülle von detaillierten Informationen über die Zusammensetzung und Morphologie einer Probe zur Verfügung zu stellen. PHILIPS EM 400 verfügt über einen ultrahochauflösenden Elektronendetektor im VGA-Stil, der speziell für die Rasterelektronenmikroskopie entwickelt wurde. Dieser Detektor wird in Kombination mit einem neuen Schnellabtastsystem eingesetzt, das die Erfassung unterschiedlichster Bildtypen in Sekundenschnelle ermöglicht. Es ist in der Lage, Proben mit Geschwindigkeiten von bis zu 1.200 Bildern pro Sekunde im hochauflösenden Modus oder 3.500 Bildern pro Sekunde im mittleren Auflösungsmodus zu verarbeiten. Darüber hinaus ist EM 400 mit fortschrittlicher Mikrometer-Stufenausrichtung ausgestattet, die eine genaue Ausrichtung und Positionierung der Proben ermöglicht. Für außergewöhnliche Bildgebungsleistung ist PHILIPS/FEI EM 400 mit einer hochmodernen Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet. Dieses FEG bietet Benutzern einen hohen Elektronenfluss, was zu einem verbesserten Bildkontrast und einer überlegenen Auflösung führt. Darüber hinaus bietet seine fortschrittliche Einkristalloptik optimale Bildhelligkeit, Kooperativität und Gleichmäßigkeit. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, unter unterschiedlichen Bedingungen des Vakuumdrucks im Bereich von 30 bis 0,5 Pa.FEI EM 400 kommt auch mit mehreren proprietären Funktionen, die es Anwendern ermöglichen, die Leistung ihres Instruments zu optimieren. Dazu gehört das Digital Image Acquisition System (DIAS), das eine leistungsstarke Bildverarbeitungssuite bietet, die Kontraste korrigieren, Probenmaße messen und Bilder vom Mikroskop auf einen entfernten PC übertragen kann. Zusätzlich ist das Mikroskop mit einem eingebauten TFES-Detektor (Thermal Field Emission Source) ausgestattet, der eine präzise Positionierung der Probenstufe ermöglicht, was zu einer verbesserten Bildaufnahme führt. Abschließend ist PHILIPS EM 400 ein äußerst vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das die Leistung fortschrittlicher bildgebender Techniken und fortschrittlicher elektronenoptischer Komponenten kombiniert, um Forschern einen detaillierten Überblick über ihre Proben zu geben. Durch die Verwendung seiner Feldemissionskanone, Einkristalloptik und Palette von proprietären Funktionen können Benutzer die Leistung der Maschine optimieren, um Bilder von hoher Qualität mit minimalem Aufwand zu erhalten.