Gebraucht PHILIPS / FEI EM 400T #9257518 zu verkaufen

PHILIPS/FEI EM 400T ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die großflächige Bildgebung, dreidimensionale Analyse und hochauflösende Quantifizierung mikroskopischer Strukturen. Dieses Modell ist ein hochleistungsfähiges, thermostabilisiertes Gerät, das Stabilität, Präzision und Genauigkeit während erweiterter Bildgebungssitzungen bietet. Es zeigt eine fortgeschrittene Feldemissionsquelle, effiziente Linsen von Einzel und einen Hochleistungsentdecker der Energie dispersive Spektroskopie (EDS), es fähig dazu machend, ausführlich berichtete Bilder und compositional Karten von materiellen Oberflächen zu erwerben. FEI EM 400T hat eine Auflösung von 1,3 nm im SEM-Modus und 5,15 nm im MINT-Modus, so dass sehr detaillierte Visualisierungen möglich sind. Es ist mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet, die Proben bis zu einem Durchmesser von 150 mm aufnehmen kann. Dieses System wird durch fortschrittliche Software geregelt, die präzise Anpassungen, Funktionen und Einstellungen für minimale Probenschäden, verbesserte Bildqualität und effizienten Prozessablauf ermöglicht. Die Benutzeroberfläche ermöglicht die Anpassung verschiedener bildgebender Parameter wie Spotgröße, Dosis, Bühnenposition und bildgebender Bereich und ermöglicht automatisierte bildgebende Aufgaben. PHILIPS EM 400T ist ein multifunktionales Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, wie die Untersuchung biologischer Strukturen, bildgebende Verbindungen in ihrer natürlichen Umgebung und die Analyse von Mikrostrukturen und Nanostrukturen. Darüber hinaus ist es ideal für die Materialforschung und Reverse Engineering. Der Faraday-Käfig ermöglicht eine magnetische und elektrische Ablenkung, so dass eine Strahllenkung ohne aufwendige Geräteänderungen möglich ist. EM 400T verwendet auch ein Strahlstrom-Rückkopplungssystem, das automatisch die Strahlposition für verbesserte Strahlstabilität und reduzierte Ladungsartefakte einstellt. Darüber hinaus ist dieses Modell mit einer Vielzahl von Zubehörteilen wie Beschichtungs- und Gassystemen kompatibel, was eine überlegene Abbildung von nichtleitenden Proben ermöglicht. Insgesamt ist PHILIPS/FEI EM 400T ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das überlegene Bilder von Materialien und mikroskopischen Strukturen liefern kann. Seine fortschrittlichen Funktionen machen es ideal für detaillierte Analyse und hochauflösende Bildgebung, so dass Benutzer ein besseres Verständnis der Materialstruktur und Zusammensetzung erhalten.