Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 200 #293587354 zu verkaufen

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293587354
Focused Ion Beam (FIB) System Insulator Pt Carbon GIS XeF2.
PHILIPS/FEI FIB 200 ist ein Doppelstrahl-Rasterelektronenmikroskop, ein Werkzeug, das hochauflösende Bildgebungsfunktionen bietet. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, die es zu einem wesentlichen Werkzeug für Forscher in einer Vielzahl von Bereichen machen. Das grundlegende optische System besteht aus einer Kathodenstrahlquelle und einer Vielzahl von Linsen und Steuerungen, die verwendet werden, um den Elektronenstrahl zu fokussieren und zu manipulieren. Das Mikroskop verfügt auch über einen fokussierten Ionenstrahl (FIB): Dieses Gerät ist in der Lage, Kapillaren direkt zu manipulieren und ermöglicht Operationen wie Fräsen und Bohren. Die Kombination von Elektronen- und Ionenstrahlen auf demselben Instrument ermöglicht es, sowohl hochauflösende Bildgebung als auch Nanofabrikation zu erreichen. Das Mikroskop selbst hat eine maximale Auflösung von 0,8 nm, mit einem Sichtfeld von bis zu 4 mm. Er ist mit 30 kV bis 30 kV betriebsfähig und kann auf eine Anzahl unterschiedlicher Betriebsarten eingestellt werden. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein Analysesystem zur Probenanalyse, das Signale von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Röntgenstrahlen liefert. FEI FIB 200 ist ein vielseitiges bildgebendes Instrument, das gleichbleibend hochwertige Ergebnisse erzielen kann. Die Kombination aus Elektronik- und Ionenstrahl-Bildgebungsfunktionen sowie der geringe Stromverbrauch und die breite Palette an Betriebsarten machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Forscher. PHILIPS FIB-200 ist eine unglaublich präzise und zuverlässige Maschine, die höchste Qualität und Genauigkeit bietet.
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