Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 200 #293595359 zu verkaufen

PHILIPS/FEI FIB 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das Feldemissionselektronenoptik, fokussierte Ionenstrahl (FIB) -Technologie und fortschrittliche Analyse kombiniert. Dieses leistungsstarke Tool wurde entwickelt, um den Betreibern umfassende Bildgebungs- und Analysefunktionen zu bieten. Die Hauptkomponente von FEI FIB 200 ist das revolutionäre Dual-Detektor-System. Diese besteht aus einem Annular Dark Field (ADF) Detektor, der eine schnelle topographische Analyse ermöglicht, und einem Backscattered Electron (BSE) Detektor, der verschiedene chemische Komponenten identifizieren kann. Der ADF-Detektor von PHILIPS FIB-200 ermöglicht eine extrem hochauflösende Bildgebung. Diese leistungsstarke Bildgebungsfähigkeit liefert eine maximale Auflösung von 3 Nanometern und bietet sehr detaillierte Bilder. Neben seinen beeindruckenden Bildgebungsfunktionen ist FEI FIB-200 auch mit einem Precise Ion Beam Generator ausgestattet. Dies bietet eine erhöhte Genauigkeit bei der Herstellung, so dass das integrierte System qualitativ hochwertige Querschnittsbilder und hochauflösende dreidimensionale Oberflächenrekonstruktionen mit beispielloser Genauigkeit erzeugen kann. FIB-200 umfasst auch einen integrierten FIB-SEM-Port, der eine nahtlose Verbindung zu FIB-Systemen für hochauflösende Bildgebung, Atomsondentomographie und andere erweiterte Analysen ermöglicht. Dieses Merkmal erhöht die Vielseitigkeit des Systems erheblich, da eine Vielzahl von Probenstrukturen direkt manipuliert werden können. Eines der beeindruckendsten Features von PHILIPS/FEI FIB-200 ist seine fortschrittliche Software. Diese Software-Suite bietet eine Vielzahl leistungsstarker Tools, einschließlich der automatisierten Bildsequenzgenerierung, der automatischen Untersuchung replizierter Proben und der interaktiven 3D-Datenanalyse. FIB 200 bietet die perfekte Lösung für die Bildgebung und Analyse selbst der kompliziertesten Proben. Durch die Kombination von Feldemissionselektronenoptik, fokussierter Ionenstrahltechnologie und fortschrittlicher Datenanalyse ist dieses Rasterelektronenmikroskop ein wesentliches Werkzeug für jedes Labor.