Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 200 #293648640 zu verkaufen

ID: 293648640
Focused Ion Beam (FIB) system Pre-lens system.
PHILIPS/FEI FIB 200 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes bildgebendes und analytisches Werkzeug. Dieses Mikroskop nutzt eine Feldemissionskanone (FEG), um eine optimale Übertragung von Elektronen auf die Probe zu erreichen. FEI FIB 200 ermöglicht Bildgebung höherer Auflösung, überlegene Schärfentiefe und effizienteren Betrieb als die herkömmlichen TEM/SEM-Mikroskope. Das Instrument verfügt über einen erweiterbaren Vergrößerungsbereich von fünftausend bis hunderttausendmal und geräuscharm, mit ausgezeichneter Energieauflösung bis zu 0,2 eV. Dies liegt zum Teil an der großen Cs-Feldlinse mit einer Länge von 200 mm, die eine optimale Bildübertragung und -erkennung gewährleistet. Der niedrige Vakuumzustand (< 0,04 Pa) ermöglicht es Benutzern, empfindliche Proben abzubilden und minimiert Probenschäden. Das SEM verfügt außerdem über ein fokusstabilisiertes Sensorsystem (FSS), das eine längere Beobachtungsdauer ermöglicht. PHILIPS FIB-200 ist mit einer hochpräzisen Stufe ausgestattet, um eine optimale Probenpositionierung zu gewährleisten. Diese Stufe ist in der Lage, sich über Distanzen von bis zu 100 mm in alle Richtungen zu bewegen und bis zu ± 40 ° zu drehen. Darüber hinaus ist die Bühne in der Lage, gestapelte Multi-Point-Scans in einer Sitzung durchzuführen, und verfügt über ein V-förmiges Gitter und ein breites Spektrum an Standard-Scanzubehör. Dieses Analysegerät verfügt über eine Reihe analytischer Anwendungen, von denen einige die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), die sekundäre Elektronenbildgebung (SEI) und die Transmissionselektronenbildgebung (TEM) umfassen. Es hat auch die Fähigkeit, zahlreiche hochauflösende Bilder in einem Pulszählmodus zu sammeln, was eine genauere Datenerfassung ermöglicht. Anwender von FIB-200 können von der eingebauten automatisierten Hardware und Software profitieren, die die Rüstzeiten erheblich verkürzen und die zusätzlichen Fähigkeiten des Geräts wie die konventionelle Elektronenstrahl-Lithographie erkunden. PHILIPS/FEI FIB-200 SEM ist ein leistungsfähiges Analyse- und Bildgebungswerkzeug, das eine Reihe zuverlässiger Funktionen und Fähigkeiten bietet. Es ist sehr effektiv bei der Durchführung analytischer Messungen sowohl von organischen als auch von anorganischen Proben. Seine hohe Leistung sowie seine zahlreichen automatisierten Anwendungen machen dieses Instrument zu einer optimalen Wahl für Anwender, die ein zuverlässiges und effizientes SEM suchen.
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