Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 200 #293676195 zu verkaufen

PHILIPS/FEI FIB 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das eine leistungsstarke Plattform für die Bildgebung im Nanoskalibereich ist. Es hat eine ausgezeichnete Auflösung und Kontrast und bietet eine Reihe von erweiterten Datenanalyse-Anwendungen. FEI FIB 200 verwendet einen fokussierten Ionenstrahl (FIB), um kleine Bereiche der Probe zu entfernen und scannt dann den belichteten Bereich mit einem Elektronenstrahl, um die Details der Probe zu beobachten. Dieser Prozess kombiniert die bildgebenden Fähigkeiten des SEM mit einer erweiterten Probenverarbeitung. PHILIPS FIB-200 verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, die es zu einer großen Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen machen. Dieses Mikroskop hat einen Scanbereich von 8nm bis 50 μ m, einen gesamten Vergrößerungsbereich von 5x bis 500x und eine variable Spotgröße von 1nm bis 100nm. Mit seiner präzisen Positionierungsphase können Wissenschaftler problemlos in jeden Bereich von Interesse navigieren. PHILIPS/FEI FIB-200 bietet zudem mit der eingebauten SuperTwin E-Beam Technologie eine hervorragende Bildqualität. Diese Funktion erzeugt hochwertige Bilder mit ausgezeichnetem Kontrast. Zusätzlich können FEI- FIB-200 verwendet werden, um mit dem fortschrittlichen 3D-Rekonstruktionstool, das einen effizienten Workflow bietet, die für die Modellierung von 3D-Strukturen benötigten Daten zu erhalten. FIB 200 bietet auch eine einzigartige STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) Bildgebungsoption. Die MINT-Option ermöglicht es Forschern, hochauflösende Bilder von nanoskaligen Strukturen zu erhalten. Es bietet auch eine Reihe von Datenerfassungsoptionen, wie Hochgeschwindigkeitsbildgebung, für ein interaktiveres Bildgebungserlebnis. PHILIPS FIB 200 hat eine Reihe von anderen Funktionen, die es eine ideale Wahl für viele Arten von Forschung machen. Es ist benutzerfreundlich gestaltet und bietet intuitive Navigation, Bedienung und digitale Bildgebung. Es bietet auch erweiterte Analysefunktionen, wie Features-Erkennungs- und Messwerkzeuge, mit denen Benutzer ihre Daten schnell interpretieren können. Schließlich verfügt FIB-200 über eine Reihe von Software, die eine leistungsstarke Datenanalyse ermöglicht. Die leistungsstarke InSpect-Software ermöglicht es Benutzern, ihre Daten zu analysieren und zu quantifizieren sowie wichtige strukturelle Merkmale ihrer Probe zu identifizieren. Darüber hinaus bietet die EZSpect + -Software einfache Workflows, mit denen Benutzer Zeit sparen und erweiterte Analysen durchführen können. Insgesamt ist PHILIPS/FEI FIB 200 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Es ist ideal für eine Reihe von nanoskaligen Forschungsanwendungen und ist benutzerfreundlich und einfach zu bedienen. Es bietet eine hervorragende Bildauflösung, Kontrast und Genauigkeit sowie erweiterte Analysewerkzeuge und leistungsstarke Software.