Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 200 #293756948 zu verkaufen

ID: 293756948
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI FIB 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für Anwendungen in der nanoskaligen Bildgebung und Analyse von Materialien entwickelt wurde. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder und Konturen von Proben mit oder unter 10 nm Auflösung zu erfassen. FEI FIB 200 verfügt über eine leistungsstarke Feldemissionskanone (FEG) mit Elektronen-Nanolithographie-Fähigkeiten. Die Säule ist mit einem elektrostatischen Quadrupol-Primärenergiefilter ausgestattet, um die Auflösung weiter zu maximieren, während ein einziehbarer Sekundärfilter eine kontaminationsfreie Abbildung gewährleistet. Es stehen verschiedene In-Column-Detektoren zur Verfügung, darunter ein rückgestreuter Elektronendetektor (BSE), ein fluoreszierender Röntgendetektor, ein Sekundärelektronendetektor (SE) und ein gasförmiger Sekundärelektronendetektor (GSE). PHILIPS FIB-200 verfügt über eine hochauflösende Probenstufe, die Proben bis zu einer Größe von 200 mm aufnehmen kann, und eine große Auswahl an automatisierten Probenhaltern, die schnelle und einfache Umstellungen bieten. Ein geschlossenes Gaseinspritzsystem (GIS) ermöglicht die Abscheidung von metallischen Schichten durch Sputtern, Elektropolieren und Ionenstrahlverarbeitung. Diese Vielseitigkeit ermöglicht es dem Forscher, Proben mit minimalem Aufwand zu mustern, zu charakterisieren und zu modifizieren. PHILIPS FIB 200 kann als konventionelles SEM oder als omnidirektionales Gasinjektionsmikroskop (OMIG) betrieben werden, das zur In-situ-Beobachtung und Mikroverarbeitung von Proben fähig ist. Es ist auch mit Elektronenstrahl-Lithographie (EBL) ausgestattet, um präzise zweidimensionale Musteranwendungen bereitzustellen. Neben FIB 200 bietet FEI eine Reihe von modularem Zubehör, das für speziellere Anwendungen in das Mikroskop aufgenommen werden kann. Dazu gehören ein digitales Videosystem zur Echtzeit-Videoübertragung, ein Scan-Ionen-Minibeam-System zur Analyse von Isolatoroberflächen und ein automatisierter Bühnencontroller für mehrachsige Bühnenbewegungen. PHILIPS/FEI FIB-200 ist eine optimale Wahl für nanoskalige Bildgebung und Nanofabrikation von Materialien. Die Kombination aus Hochleistungskomponenten, eine große Auswahl an automatisierten Probenhaltern und Zubehör sowie eine omnidirektionale Bedienung machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Forschung in der Nanotechnologie.
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