Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 200 #9298847 zu verkaufen

PHILIPS/FEI FIB 200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Beobachtung und Untersuchung mikroskopischer und nanoskopischer Proben verwendet wird. Dieses Elektronenmikroskop dient der hochauflösenden Bildgebung und Materialanalyse in den Bereichen Werkstoffwissenschaft, Industrielle Metallographie und Biowissenschaften. FEI FIB 200 ist mit einer Umweltansicht ausgestattet, die es ermöglicht, Proben unter Nicht-Vakuum-Bedingungen und einer Vielzahl von flüssigen und gasförmigen Bedingungen zu beobachten. Dies bedeutet, dass das Mikroskop zur Analyse von Proben verwendet werden kann, ohne ein Vakuum um die Probe herum aufrechterhalten zu müssen. Das Rasterelektronenmikroskop weist einen hochauflösenden Elektronendetektor auf, der Elektronen mit einer Energieauflösung von 0,01 eV detektieren kann. Dies ist wichtig, da es Elektronen mit einer hohen Auflösung messen kann, um die kleinsten Merkmale eines Bildes zu erkennen. PHILIPS FIB-200 ist auch mit einem Sekundärelektronendetektor ausgestattet. Dies ist wichtig, da es dem Mikroskop ermöglicht, Sekundärelektronen zu detektieren, die entstehen, wenn ein Elektronenstrahl auf die Oberfläche der Probe trifft. Dies ist nützlich, um die Oberflächeneigenschaften der Probe zu untersuchen und hochauflösende Bilder zu erzeugen. PHILIPS FIB 200 verfügt zudem über ein Ultrahochvakuumsystem, das eine kontrollierte Umgebung ermöglicht, in der Proben untersucht werden können. Dies ist wichtig, da es die Kontamination der Probe minimiert und die Schäden an Proben durch andere Gase in der Luft vermeidet. Das Elektronenmikroskop weist zwei komplementäre Beleuchtungssysteme auf. Die erste ist das Feldunterstützungs-Beleuchtungssystem, das reflektierte Elektronen verwendet, die von der Probe gestreut werden, um helle Bilder der Probe zu erzeugen. Der zweite ist der Sekundärelektronenmodus, der durch Detektion der Sekundärelektronen, die beim Auftreffen des Elektronenstrahls auf die Probe erzeugt werden, helle Bilder der Oberfläche der Probe erzeugt. Schließlich verfügt PHILIPS/FEI FIB-200 über eine hochauflösende Digitalkamera, die die Erzeugung digitaler Bilder der Probe ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer Software ausgestattet, die eine 3D-Rekonstruktion der Probe ermöglicht. Dies ist nützlich, um dreidimensionale Modelle zu erstellen, die für die Analyse und Visualisierung der Probe verwendet werden können.