Gebraucht PHILIPS / FEI FIB 820 #9137621 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 9137621
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1995
Dual beam FIB, 8"
Chamber:
8" High vacuum
TMP Pumping system
Manual loading type loader
(5) Axis motorized stages
Chamber CCD camera
Electron gun:
XL30 FEG column
Type: Se-cathode
Multiple hole aperture
SE Detector
(2) Ion pump
Ion gun:
LMIS Ga ion gun
(1) Ion pump
Gas gun: Enhanced etch gun
Depo gun: PT Deposition gun
Control PC:
Maxpro 1000 system
Windows NT
Control rack:
HTSU
Power supply: 30KV Electron gun
Power rack:
Electron gun IGP controller
Ion gun IGP controller
Stage control PCB and power
ETC:
Power supply: 30KV Ion gun
Extenernal TMP controller
Missing parts:
Wafer holder
Stage control power supply
Vacuum pump
Control pad
Trackball
1995 vintage.
PHILIPS/FEI FIB 820 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges und leistungsstarkes bildgebendes Werkzeug für die Forschung in den Bereichen Physik, Chemie, Materialwissenschaft, Geologie, Biologie und mehr. Es bietet eine maximale Auflösung von 5 nm, 2D/3D-Bildgebungsfunktionen, einen offenen Grundriss und eine große Auswahl an Detektoren, Vergrößerungen, gasförmigen Umgebungen und Bühnenkonfigurationen. Der große offene Grundriss von FEI FIB 820 ermöglicht eine einfache Probenpositionierung und -entnahme, und alle Vakuumanschlüsse, Elektronik und andere Komponenten befinden sich außerhalb des direkten Arbeitsbereichs. Die Scanplattform ist für den Einsatz mit einer Vielzahl von Proben konzipiert, darunter kleine Stücke Metall und Elektronik, biologische Proben, kleine Körner von Materialien und vieles mehr. PHILIPS FIB-820 verfügt über ein umfassendes Spektrum an Elektronenoptiken, einschließlich eines Vergrößerungsbereichs von 20x bis 300.000x. Es verfügt über eine Vielzahl von Detektoren, die Bilder mit hohem Kontrast, Auflösung und Signal-Rausch-Verhältnis. Dazu gehören unter anderem ein Sekundärelektronendetektor, ein rückgestreuter Elektronendetektor, ein Sekundär-Ionendetektor und ein Röntgendetektor. Erweiterte Bildgebungssoftware bietet zahlreiche Vorteile, darunter erweiterte Bildaufnahme- und Manipulationsfunktionen. PHILIPS FIB 820 bietet auch viele Möglichkeiten, hochauflösende Bilder von Proben in einer gasförmigen Umgebung zu erstellen. Durch die Steuerung von Gasdruck und Durchfluss kann der Benutzer Vakuumwerte bis 10-10 Torr erreichen, was ideal für die Abbildung anorganischer Proben ist. Die Gaskammer ist auch in der Lage atmosphärische Steuerung, ermöglicht eine Vielzahl von gasförmigen Umgebungen, einschließlich kryogenes Vakuum, Ultra-Hochvakuum und Ultra-Niedervakuum. PHILIPS/FEI FIB-820 ist ein ideales Werkzeug für Anwendungen in der Nanotechnologie, biologischen Bildgebung, Materialwissenschaft und mehr. Der offene Grundriss, die erweiterten bildgebenden Optionen und die große Auswahl an Detektoren machen es zu einem idealen Werkzeug für Forscher, die ihre bildgebenden Fähigkeiten verbessern möchten. Dieses leistungsstarke SEM bietet exzellente bildgebende Funktionen, ein breites Einsatzspektrum und eine umfassende Palette von Komponenten, um den Bedürfnissen der meisten Forscher gerecht zu werden.
Es liegen noch keine Bewertungen vor