Gebraucht PHILIPS / FEI FIB #9358460 zu verkaufen

PHILIPS/FEI FIB (Focus Ion Beam) Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Instrument verwendet, um nanoskalige Bilder von biologischen und anderen Proben zu erzeugen. Es ist für die Abbildung von harten und weichen Materialien auf nanoskaliger Ebene optimiert und kann extrem hochauflösende Bilder mit natürlichem und künstlichem Kontrast erhalten. FEI FIB arbeitet, indem es sowohl einen fokussierten Ionenstrahl (PHILIPS FIB) als auch einen Rasterelektronenstrahl (Rasterelektronenstrahl, SEM) in demselben Instrument kombiniert, so dass Forscher die Probe manipulieren und hochauflösende Bilder mit FIB erzeugen können. PHILIPS/FEI FIB verfügt über eine Ionenabtastsäule zur Steuerung der Tiefe des Ionenstrahls in der Probe. Diese Spalte kann manipuliert werden, um sich auf verschiedene Ebenen der Probe zu konzentrieren, so dass Forscher Bilder mit einer Auflösung von bis zu 0,5 nm aufnehmen können. Darüber hinaus enthält FEI FIB-Säule ein spezielles System zur Steuerung des Winkels, der Energie und der Geschwindigkeit des Ionenstrahls, das eine präzise Manipulation und Abbildung von Proben ermöglicht. PHILIPS FIB wird verwendet, um nanoskalige Bilder mit monochromatischem und polychromatischem Kontrast zu erzeugen. Monochromatische Bildgebung verwendet eine einzige Elektronenenergie, um Bilder mit maximalem Kontrast zu erzeugen. Während der polychromatischen Bildgebung können mehrere Elektronenenergien verwendet werden, die mehr Tiefeninformationen im Bild liefern und es Forschern ermöglichen, eine größere Palette von Proben zu untersuchen. Darüber hinaus ist FIB für die Kombination von Live Sample Imaging mit der Kommunikation mit anderen mikroskopischen Instrumenten optimiert. PHILIPS/FEI FIB kann auch in verschiedenen hochauflösenden Tomographietechniken verwendet werden. Diese Techniken ermöglichen es Forschern, Proben in drei Dimensionen zu beobachten und detailliertere Informationen als ein traditionelles zweidimensionales Bild zu liefern. Tomographische Techniken wie fokussierte Ionenstrahltomographie (FEI FIB-TEM) werden verwendet, um die Struktur und die inneren Eigenschaften einer Probe zu messen, indem sie über einen Bereich von Winkeln abgebildet werden. Kurz gesagt, PHILIPS FIB ist ein unschätzbares Werkzeug für die nanoskalige Bildgebung und Analyse. Seine Kombination aus einer fokussierten Ionenstrahlsäule und einem Rasterelektronenmikroskop, eine präzise Steuerung des Ionenstrahls und leistungsstarke tomographische Techniken können Forschern eine Fülle von Informationen über Proben in unglaublich kleinem Maßstab liefern.