Gebraucht PHILIPS / FEI Gun unit for Tecnai F30 #293669732 zu verkaufen

FEI Gun Unit für das Tecnai F30 Rasterelektronenmikroskop ist eine Ultrahochvakuum-Kathodeneinheit, die aus mehreren Komponenten besteht, die eine verbesserte Elektronenstrahlstabilität ermöglichen. Die Geschützanordnung besteht aus einer thermionischen Kathode, Filament, Anode, Beschleunigungselektrode und Gitter, Isolatoren, Probenvorbereitungshalter und die Gun Unit selbst. Die thermionische Kathode besteht aus einem oxidbeschichteten Wolframmaterial und ist in einer geschweißten Edelstahlbaugruppe untergebracht. Sie ist für die Erzeugung der Elektronen verantwortlich, die zur Beleuchtung der Probe benötigt werden. Diese Elektronen werden erzeugt, wenn das erhitzte Wolframmaterial einem hohen Vakuumdruck ausgesetzt ist. Das Filament wird zur Erwärmung der Kathode und zur Herstellung von Elektronenstrahlen verwendet. Es verwendet einen speziell entwickelten Filamentstrom, der durch eine externe Schaltung stabilisiert wird. Die Beschleunigungselektrode befindet sich zwischen der Thermionkathode und der Probe. Es beschleunigt die Elektronen von Niederspannung auf hohe Spannungen, die zur Analyse der Probe geeignet sind. Die Anode, auch Kollektor genannt, ist eine der Kathode gegenüberliegende positiv geladene Platte. Es sammelt die erzeugten Elektronen und dient als Referenz für die Strahlstrommessung. Das Gitter wird auch als Wehnelt-Zylinder bezeichnet und dient zur Steuerung der Form des Elektronenstrahls. Es wird verwendet, um eine gleichmäßige Beleuchtung auf der Probenoberfläche zu gewährleisten. Die Waffeneinheit ist als Ultrahochvakuum (UHV) -Umgebung konzipiert, in der alle Komponenten innerhalb der Pistole isoliert werden, um eine Kontamination der Probe zu verhindern. Die Isolatoren dienen zur elektrischen Isolierung zwischen Anode und Kathode sowie von den anderen Systemkomponenten. Sie bestehen aus elektrisch stabilen Materialien wie Teflon oder Kapton. Zur Montage der Proben im Elektronenstrahl werden Probenvorbereitungshalter verwendet, die aus einem federbelasteten Mechanismus bestehen. Schließlich beinhaltet die Geschützeinheit selbst Netzteile und zusätzliche Elektronenoptiken für die Bildgebung und andere Objektbeobachtungen. Kombiniert arbeiten diese Komponenten zusammen, um einen stabilen Elektronenstrahl zu erzeugen, der für die elektronenmikroskopische Analyse von Proben geeignet ist. Die Geschützeinheit ist in der Lage, eine Vielzahl von Strahlstrompegeln und Spannungseinstellungen zu erzeugen. So können Anwender detaillierte Analysen von Probenoberflächen mit höchster Bildqualität durchführen.