Gebraucht PHILIPS / FEI Inspect-F #9261821 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Inspect-F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Reihe von analytischen Fähigkeiten für den industriellen, wissenschaftlichen und akademischen Einsatz bietet. Dieses Mikroskop ist ein beträchtliches Upgrade von früheren Generationen von SEMs und bietet höhere Auflösungs- und Bildgebungsfunktionen. FEI Inspect-F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einem patentierten Design, das vibrationsarme, hochauflösende Bildgebung und erweiterte analytische Fähigkeiten erzeugt. Es verwendet ein leistungsstarkes turbogepumptes Vakuumsystem für eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Techniken, einschließlich Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen und Röntgenmikroanalysen. Das System ist auf Proben von kleinen Abschnitten bis hin zu größeren Strukturen zugeschnitten. Die fortschrittliche Elektronenoptik ist mit einem intelligenten Autofokus-System ausgestattet, das den Elektronenstrahl schnell und präzise fokussiert, um hochauflösende Bilder zu erzeugen. Die Optik wurde entwickelt, um den Durchsatz zu maximieren und die Scanzeit zu reduzieren und gleichzeitig eine volldynamische Bildoptimierung zu ermöglichen. Die große Kammergröße bietet ausreichend Zugang zur Probe für einfache Manipulationen und Navigation. PHILIPS Inspect-F verfügt auch über eine breite Palette von anspruchsvollen Instrumenten, die eine Vielzahl von anwenderkonfigurierbaren Optionen für eine Vielzahl von analytischen Verfahren bieten. Es kann mit ringförmigen Dunkelfeld (ADF) bildgebenden und energiedispersiven Röntgenmikroanalyse (EDX) Fähigkeiten ausgestattet werden. Das Instrument umfasst eine große Sammlung dedizierter und austauschbarer Detektoren, einschließlich elektromagnetischer Energiefilter (EIEF), energiedispersiver Spektrometrie (EDS) und Elektronenenergieverlustspektrometrie (AES). Der zuverlässige Betrieb von Inspect-F ermöglicht auch eine Vielzahl zusätzlicher Analysen, wie Röntgenpunktanalyse (XPA), Photoelektronenspektroskopie (XPS), partikelinduzierte Röntgenemission (PIXE) und Kathodolumineszenz. Die Probenkammer ist temperaturgesteuert für konsistente Abbildungsbedingungen und gewährleistet zuverlässige Ergebnisse bei der Analyse von Proben jeglicher Art. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Inspect-F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten, beispiellose Auflösung und überlegene Leistung bietet. Seine Rechenleistung und Instrumentierung machen es zum perfekten Werkzeug für industrielle, akademische und wissenschaftliche Anwendungen.