Gebraucht PHILIPS / FEI Inspect F50 #9239425 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Inspect F50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das es Anwendern ermöglicht, hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben im Mikro- und Nanoskala durchzuführen. Dieses SEM ist mit einer Vielzahl von Funktionen und Funktionen ausgestattet, die präzise Ergebnisse liefern. FEI Inspect F50 verfügt über eine Feldemissionskanone, die einen hochwertigen Elektronenstrahl mit verbesserter Stabilität erzeugt, wodurch Bilder mit höherer Auflösung und gleichzeitig die Betriebskosten minimiert werden. Die Aberrationskorrektur der Elektronensäule ermöglicht es Benutzern, atemberaubende Bilder ihrer Proben zu erhalten und gleichzeitig Tiefenschärfe und Gesamtbildschärfe zu verbessern. Der Sekundärelektronendetektor weist ein 3D-Rückstreudetektorarray auf, das eine große Schärfentiefe und eine hervorragende Auflösung insbesondere für die Oberflächenanalyse aufweist. PHILIPS Inspect F50 kommt auch mit einem hochentwickelten Computersystem, mit einem schnellen Prozessor und dedizierte Grafikkarte, sowie eine große Menge an RAM und Speicherplatz. Dies ermöglicht eine schnellere Bilderfassung und Organisation von Daten aus dem Simulator. Darüber hinaus bietet Inspect F50 hervorragende Bearbeitungs- und Bildgebungsfunktionen. Seine In-Objektiv automatisierte Stufe unterstützt Proben von bis zu 100 mm Größe mit Auflösung bis zu 1 Ångström. Die automatisierte Stufe ist auch in der Lage, viele Proben mit präziser Steuerung für Probenbeladung, Positionierung und Tracking zu handhaben. PHILIPS/FEI Inspect F50 ist auch mit einer mikroskopischen Digitalkamera und integrierter Mikrosonde zum Scannen von Proben und zum Sammeln von Bildern auf Nanometerwaagen ausgestattet. Schließlich bietet FEI Inspect F50 auch einen umfassenden Satz benutzerfreundlicher Software-Tools zur Bildbearbeitung und Analyse von SEM-Daten. Dazu gehören Werkzeuge zur Erstellung dreidimensionaler Bilder sowie automatisierte Messungen und 3D-Oberflächenanalysen. PHILIPS Inspect F50 ist ein fortschrittliches, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das anspruchsvolle Bildgebungs- und Analysefunktionen mit überlegener Auflösung, Probenhandhabung und Kontrolle bietet. Seine breite Palette an Funktionen, Funktionalitäten und benutzerfreundlichen Software-Tools bieten die ultimative Plattform für die Bildgebung und Analyse von Proben im Mikro- und Nanoskop.