Gebraucht PHILIPS / FEI Nova 600 #9197165 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Nova 600 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes und analytisches Instrument zur ultrahochauflösenden Inspektion und Analyse von Proben. Es ist in der Lage, Oberflächenmerkmale bis zur Nanometerskala zu identifizieren und hochauflösende Bilder von Halbleiter- und anderen nanoskaligen Strukturen bereitzustellen. Das Gerät besteht aus einem karussellierten Sekundärelektronendetektor (SE), einer Elektronensäule mit einer elektrostatischen Pistole zur Elektronenstrahlmanipulation und einer Probenstufe. FEI Nova 600 ist auch mit einem energiedispersiven Röntgen- (EDX) Spektroskopie-Detektor ausgestattet, der eine qualitative und quantitative Elementaranalyse von Proben ermöglicht. Die Elektronenkanone in PHILIPS NOVA600 ist in der Lage, eine Vielzahl von Elektronenstrahlspannungen und Stromdichten zu erzeugen. Dadurch kann das System hochauflösende Bilder aus Oberflächenmerkmalen bis zu 1 nm erzeugen. Die Strahlmanipulationseinheit arbeitet durch Ablenken des Elektronenstrahls in einer x- und y- Ebene in einem Rastermuster, wodurch Oberflächenmerkmale auf einer Probe lokalisiert werden können. Die Probenstufe der NOVA600 ist in allen drei Achsen - x, y und z - bewegungsfähig. Dadurch kann das SEM eine ganze Probe scannen, um eine präzise 3D-Abbildung der Oberflächen einer Probe zu erhalten. Dies liefert ein hohes Maß an Details in der Topographie einer Probe und hilft, genau zu erkennen, wo sich bestimmte Kanten und Formen auf der Probenoberfläche befinden. Die Maschine verfügt auch über automatisierte Funktionen, um die Bildauflösung und den Kontrast der feinen Funktionen zu optimieren. Dazu gehören Rauschreduktion zur Optimierung der Gesamtbildqualität und dynamischer Fokus zur Steuerung der Brennweite einer Probe über verschiedene Bereiche einer Probenoberfläche hinweg. Schließlich ist PHILIPS Nova 600 sowohl mit einem Sekundärelektronendetektor als auch mit einem EDXSpectroskopie-Detektor ausgestattet. Der Sekundärelektronendetektor soll durch die Verwendung der emittierten Elektronen aus der Probe den Kontrast und die Auflösung von Proben optimieren. Die EDXSpektroskopie ermöglicht eine quantitative Elementaranalyse von Proben sowie eine qualitative Identifizierung von Elementen auf einer Probenoberfläche. Abschließend ist PHILIPS/FEI NOVA600 Scanning Electron Microscope ein unglaublich leistungsfähiges bildgebendes und analytisches Instrument. Durch die Bereitstellung von ultrahochauflösenden bildgebenden und elementaren Analysefähigkeiten im Nanometermaßstab ermöglicht das Werkzeug sehr detaillierte Inspektionen von Proben. Die automatisierten Funktionen und Strahlmanipulationsmittel bieten auch präzise 3D-Karten der Topographie einer Probe, die genaue Positionsmessungen von Oberflächenmerkmalen und -formen ermöglichen.