Gebraucht PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #293800790 zu verkaufen

ID: 293800790
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop mit optimierter Leistung für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben. Es ist ein vielseitiges, benutzerfreundliches Mikroskop mit der Fähigkeit, hochwertige 3D-Bilder zu erzeugen und Proben im Nanoscale-Bereich zu analysieren. Das NanoLab 200 verfügt über eine flexible Probenphase, Automatisierungssoftware, vollautomatische Ausrichtung und Fokussierung sowie andere automatisierte Funktionen, die die Bedienung vereinfachen. Die Ausrüstung umfasst eine Thermionpistole und eine Hochleistungs-Kaltfeld-Emissionskanone, die beide über einstellbare Spotgröße, Fokus und Beschleunigungsspannungen verfügen. Die Pistole und die Bühne können miteinander verbunden werden, so dass gleichzeitig elektrische, magnetische und chemische Messungen möglich sind. Das System ist mit einer ultrahochauflösenden Digitalkamera ausgestattet, die in Verbindung mit der benutzerfreundlichen Steuerungssoftware eine schnelle Erfassung von Bildern und Daten ermöglicht. Das NanoLab 200 ist für hochauflösende Bildgebung ausgelegt. Das Gerät hat eine maximale Auflösung von 0,9 nm/Pixel und eine maximale Fokustiefe von 150 um. Das Sichtfeld reicht von 0,2 bis 2 µm, so dass detaillierte Darstellungen kleiner Proben möglich sind. Die Fähigkeit, kleine Probengrößen zu analysieren, ist für die Untersuchung nanoskaliger Strukturen und Moleküle unerlässlich. Die Maschine beinhaltet einen umfassenden Satz ausgefeilter Software. Die Widestar-Software bietet erweiterte Funktionen wie 3D-Bildgebung, probenbasierte Analyse der elementaren Zusammensetzung von Materialien, Bildanalyse und -manipulation sowie quantitative Analyse. Zusätzliche Software wie Tescan-Software kann verwendet werden, um eine breite Palette von Tomographie und Hochgeschwindigkeitsbildgebung zu erstellen. Das NanoLab 200 verfügt über die Fähigkeit, vielseitige Experimente für Anwendungen wie Fehleranalyse, hochauflösende Bildgebung, Materialforschung, biologische Probencharakterisierung und Halbleiterverarbeitung durchzuführen. Die hohe Stabilität und Präzision des Werkzeugs verleihen ihm die Fähigkeit, weiche und zerbrechliche Proben ohne Verzerrung zu analysieren. Insgesamt ist das FEI Nova NanoLab 200 ein leistungsstarkes und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Vielzahl von Bildgebungs-, Analyse- und Charakterisierungsaufgaben eignet. Seine fortschrittliche Software, Benutzerfreundlichkeit und Vielseitigkeit machen es zu einer idealen Wahl für alle, die eine zuverlässige Ressource für die nanoskalige Probenanalyse benötigen.
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