Gebraucht PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #293809600 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Bildgebungs- und Nanofabrikationsmöglichkeiten bietet. Dieses hochmoderne Instrument ist für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiterforschung, Life Sciences und Nanotechnologie konzipiert. Das FEI Nova NanoLab 200 ist mit innovativer Technologie und Funktionen ausgestattet, die eine hochauflösende Bildgebung, Elementaranalyse und präzise Manipulation von Proben im Nanoskalibereich ermöglichen. Im Zentrum von PHILIPS Nova NanoLab 200 steht eine Feldemissionselektronenquelle, die einen hochfokussierten Elektronenstrahl mit ausgezeichneter Helligkeit und Stabilität erzeugt. Diese Elektronenquelle ermöglicht es dem Mikroskop, hochauflösende Bildgebungsfähigkeiten zu erzielen und liefert detaillierte Informationen über die Oberflächenmorphologie und -struktur einer Vielzahl von Proben. Das Instrument ist in der Lage, Funktionen so klein wie wenige Nanometer aufzulösen, so dass es ideal für das Studium von Nanopartikeln, dünnen Filmen und Nanostrukturen mit außergewöhnlicher Klarheit und Präzision ist. Nova NanoLab 200 ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, die verschiedene Bildgebungs- und Analysetechniken ermöglichen. Der Everhart-Thornley-Detektor dient der sekundären Elektronenbildgebung und liefert topographische Informationen über die Probenoberfläche. Das Instrument weist außerdem einen rückgestreuten Elektronendetektor für die kompositorische Kontrastbildgebung auf, mit dem verschiedene Materialien anhand ihrer Ordnungszahl identifiziert werden können. Zusätzlich ermöglicht der energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor eine elementare Analyse der Probe, die Informationen über die Verteilung der Elemente innerhalb der Probe liefert. Eines der Hauptmerkmale des PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 ist die fortschrittliche Nanofabrikation. Das Instrument ist mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule (FIB) ausgestattet, die zum Präzisionsfräsen, Abscheiden und Strukturieren von Materialien im Nanobereich verwendet werden kann. Das FIB-System ermöglicht es Benutzern, Proben zu manipulieren, Nanostrukturen zu erstellen und ortsspezifische Querschnitte mit hoher Genauigkeit und Kontrolle durchzuführen. Diese Fähigkeit ist besonders nützlich für Prototyping, Geräteherstellung und Fehleranalyse in der Halbleiter- und Mikroelektronik-Forschung. Das FEI Nova NanoLab 200 verfügt zudem über eine vielseitige Probenstufe, die eine präzise Positionierung und Manipulation von Proben während der Bildgebung und Analyse ermöglicht. Die Bühne kann eine breite Palette von Probengrößen und -formen aufnehmen und bietet Flexibilität für verschiedene Arten von Experimenten und Messungen. Darüber hinaus verfügt das Instrument über erweiterte Automatisierungs- und Softwaresteuerungsfunktionen, die eine effiziente Datenerfassung, Bildverarbeitung und -analyse ermöglichen. Insgesamt ist das PHILIPS Nova NanoLab 200 ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das außergewöhnliche bildgebende Auflösung, elementare Analysefunktionen und erweiterte Nanofabrikationsfunktionen bietet. Mit seiner hohen Leistung, Vielseitigkeit und benutzerfreundlichem Design eignet sich dieses Instrument für ein breites Spektrum an Forschungs- und Industrieanwendungen in den Bereichen Materialwissenschaft, Halbleitertechnik, Life Sciences und Nanotechnologie. Ob beim Studium von Nanomaterialien, bei der Analyse von Mikrostrukturen oder bei der Herstellung von Nanogeräten, das Nova NanoLab 200 bietet Forschern und Ingenieuren die Werkzeuge, die sie benötigen, um die Grenzen von Wissenschaft und Technologie auf der Nanoskala zu überschreiten.