Gebraucht PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #293824479 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Strukturen und Materialien. Dieses Instrument bietet detaillierte Einblicke in die Morphologie, Topographie, Zusammensetzung und Kristallographie von Proben mit außergewöhnlicher räumlicher Auflösung und Empfindlichkeit. Das FEI Nova NanoLab 200 bietet eine umfassende Palette von bildgebenden und analytischen Techniken und ist damit ein vielseitiges Werkzeug für Forschung und Entwicklung in verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Life Sciences und Halbleiterindustrie. Im Zentrum von PHILIPS Nova NanoLab 200 steht eine Elektronenstrahlsäule, die einen fokussierten Strahl hochenergetischer Elektronen erzeugt, um mit der Probenoberfläche zu interagieren. Das Gerät ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die einen hochkohärenten und stabilen Elektronenstrahl mit überlegener Helligkeit und Energieauflösung erzeugt und eine hochauflösende Bildgebung bei Vergrößerungen bis zu mehreren hunderttausend Mal ermöglicht. Das NanoLab 200 verfügt auch über eine Vielzahl von Detektoren zur Detektion verschiedener Signale und Wechselwirkungen zwischen dem Elektronenstrahl und der Probe, einschließlich Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen, Röntgenstrahlen und Kathodolumineszenz. Eine der Hauptstärken des Nova NanoLab 200 ist sein fortschrittliches Elektronenoptiksystem, das eine ausgeklügelte Elektronensäule mit elektrostatischen und magnetischen Linsen zur Steuerung der Trajektorie des Elektronenstrahls umfasst. Dieses System ermöglicht eine präzise Manipulation der Strahlgröße, Form und Intensität und ermöglicht anpassbare Abbildungsbedingungen für verschiedene Probentypen und analytische Anforderungen. Das Instrument verfügt auch über eine Reihe von Bühnenbewegungsoptionen, einschließlich Neigung, Rotation und Translation, um eine optimale Positionierung und Ausrichtung des Objekts für die Bildgebung und Analyse zu ermöglichen. PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 ist mit einer Reihe von bildgebenden Modi und Techniken ausgestattet, um verschiedenen Forschungsanforderungen gerecht zu werden. Neben herkömmlichen Abbildungsmodi wie Sekundärelektronenbildgebung (SEI) und Rückstreuelektronenbildgebung (BEI) bietet das Instrument erweiterte Abbildungsmöglichkeiten wie Niederspannungsbildgebung zur Reduzierung von Ladeeffekten auf isolierende Proben, hochauflösende Bildgebung für feine Oberflächendetails und Hochgeschwindigkeitsbildung für dynamische Prozesse. Das NanoLab 200 unterstützt auch In-situ-Experimente und Umweltbildgebung, so dass Forscher Proben unter kontrollierten Bedingungen und in verschiedenen Gasumgebungen untersuchen können. Hinsichtlich der analytischen Fähigkeiten ist das FEI Nova NanoLab 200 mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (WDS) für die elementare Analyse von Proben ausgestattet. Diese Systeme können die elementare Zusammensetzung einer Probe anhand der charakteristischen Röntgensignale, die während Elektronenstrahl-Wechselwirkungen emittiert werden, erfassen und quantifizieren. Das Instrument zeichnet sich auch durch Elektronenrückstreuung (EBSD) zur kristallographischen Analyse und Kartierung von Kornorientierungen in polykristallinen Materialien aus. Insgesamt ist PHILIPS Nova NanoLab 200 ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für nanoskalige Bildgebung und Analyse, das hochauflösende Bildgebung, erweiterte Analysefunktionen und anpassbare Bildgebungsmodi für eine breite Palette von Forschungsanwendungen bietet. Mit seiner Kombination aus modernster Technologie, ausgefeilter Elektronenoptik und umfassenden bildgebenden und analytischen Merkmalen ist das NanoLab 200 ein wertvolles Instrument für Forscher und Wissenschaftler in den Bereichen Materialwissenschaft, Nanotechnologie und verwandte Disziplinen.