Gebraucht PHILIPS / FEI Phenom 3950 #293652975 zu verkaufen

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ID: 293652975
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI Phenom 3950 ist ein preisgekröntes Rasterelektronenmikroskop, das eine einzigartige bildgebende Lösung bietet. Dieses Instrument verfügt über mehrere Designmerkmale, die es ermöglichen, außergewöhnlich detaillierte Bilder von den Oberflächen der Probe zu liefern. FEI Phenom 3950 verwendet sowohl konventionelle als auch fortschrittliche Technologien für überlegene Bildgebung. Die SEM-Bildgebung ist für schnelle und hochauflösende Bilder optimiert. Technisch und konstruktiv ist PHILIPS Phenom 3950 mit einer exakt konzipierten Objektivlinse ausgestattet, die für die SEM-Bildgebung optimiert ist. Das Objektiv ist mit einem speziellen Querschnitt auf jeder Seite ausgelegt, um eine maximale Lichtsammlung und eine verbesserte Bildauflösung zu ermöglichen. Die integrierte Elektronik des Instruments ermöglicht es dem Detektor, sowohl zwischen Sekundärelektronen- als auch rückgestreuten Elektronendetektorsignalen gleichzeitig zu wechseln. Dies gibt dem Benutzer die Möglichkeit, den am besten geeigneten Erkennungsmodus auszuwählen und gleichzeitig die höchste Auflösung und den Kontrast zu erhalten. Die patentierte HybridDetect-Technologie des Instruments erhöht auch den Informationsgehalt, der während der Bildgebung gesammelt wird. Phenom 3950 ist auch mit einem spezialisierten System für die Probenverarbeitung ausgestattet. Die AutoCollect Steuerungssoftware auf PHILIPS/FEI Phenom 3950 ermöglicht es dem Benutzer, Vorgänge wie Scannen, Bildverarbeitung und Schneiden durchzuführen. Die Möglichkeit, das Instrument zuvor für bestimmte Aufgaben zu programmieren, führt zu einer verringerten Genauigkeit und erhöhter Benutzereffizienz. Dies hilft auch bei größeren Datensätzen, da der Anwender das Gerät anweisen kann, komplexere Mess- und Abbildungsaufgaben durchzuführen. FEI Phenom 3950 ist ein Touchscreen, der seine Zugänglichkeit und Benutzerfreundlichkeit erhöht. Eine intuitive grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es dem Benutzer, die Anwendung aller Einstellungen zu steuern, während automatische Speicherfunktionen Daten und hochauflösende Bilddateien beibehalten. Schließlich ist ein Probenvorbereitungsmodul auf PHILIPS Phenom 3950 verfügbar, so dass der Anwender mehr Kontrolle über den Messtechnik-Prozess hat. Zusammenfassend ist Phenom 3950 ein preisgekröntes Rasterelektronenmikroskop, das eine einzigartige bildgebende Lösung bietet. Das Instrument ist mit einem präzise gestalteten Objektiv ausgestattet, ist mit einer fortschrittlichen HybridDetect-Technologie ausgestattet und nutzt die AutoCollect-Steuerungssoftware für die Probenverarbeitung. Schließlich ist das Instrument Touchscreen bedienbar, was einen einfachen Zugriff auf Einstellungen ermöglicht, und verfügt über ein Muster-Vorbereitungsmodul für erhöhte Benutzergenauigkeit.
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