Gebraucht PHILIPS / FEI Phenom #293605042 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Phenom scanning electron microscope (SEM) ist ein hochleistungsfähiges, hochauflösendes Mikroskop für die Abbildung mehrerer Materialien und vieler Anwendungen. Es wird häufig verwendet, um die Zusammensetzung, Struktur und Eigenschaften einer Vielzahl von Materialien zu untersuchen, die von einfachen Feststoffen bis hin zu komplexen Nanostrukturen reichen. FEI Phenom enthält eine leistungsstarke Zeiss-Elektronenkanone, die es dem Benutzer ermöglicht, hochauflösende Bilder auf der Nanoskala zu erhalten. Das SEM ist mit einem fortschrittlichen Fokus-Ionen-Zähldetektor ausgestattet, der eine hohe Kontrastabbildung in allen Modi bietet. Alle Komponenten sind in einem robusten und zuverlässigen System untergebracht, das sicherstellt, dass die erzeugten Bilder von höchster Qualität sind. PHILIPS Phenom verfügt über eine fortschrittliche Rasterelektronenoptik, die es ermöglicht, Proben bei einer Vielzahl von Vergrößerungen schnell abzutasten. Diese Scans können so breit wie 20.000x und so hoch wie 300.000x, so dass Phenom gut geeignet für die Untersuchung nanoskalige Strukturen und Materialien. Die Elektronenkanone hat auch die Fähigkeit, mehrere verschiedene Materialien zu scannen, so dass sie für Anwendungen wie das Studium der Oberflächenchemie, elementare Zusammensetzung und chemische Zusammensetzung verwendet werden kann. PHILIPS/FEI Phenom ist in der Lage, hochauflösende Bilder mit viel Detail zu erzeugen, auch bei hohen Vergrößerungen. Die Bilder werden auf einem digitalen Flachbildschirmdetektorsystem präsentiert, das ladungsgekoppelte Geräte (CCDs) verwendet, die es dem Benutzer ermöglichen, schnell ein Bild zu erfassen. Die CCDs sind hochempfindlich gegen Röntgen- und M-Strahlung und können auch Elektronen effektiv detektieren. FEI Phenom ist mit einer benutzerfreundlichen Softwareschnittstelle ausgestattet, mit der Benutzer einfach Scans einrichten, Bilder analysieren und Bilddaten manipulieren können. Die Schnittstelle enthält auch viele Funktionen wie Bildverbesserung, automatische Segmentierung, Hintergrundsubtraktion und Datenfilterung. Darüber hinaus bietet die Software umfassende Analysetools wie Histogramm, Autokorrelation, Fourier-Transformation, Massenkonvertierung und Datennormalisierung. Insgesamt ist das PHILIPS Phenom-Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches bildgebendes System, das sich perfekt für Forschungsanwendungen eignet, in denen intensive Details benötigt werden. Seine leistungsstarke Elektronenkanone, hochauflösende Bildanzeige und sein breites Spektrum an Vergrößerungen machen es zu einem großartigen Werkzeug für die Untersuchung einer Vielzahl von Materialien, von einfachen Feststoffen bis hin zu komplexen Nanostrukturen. Dieses Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop ist ein ideales Gerät für Forschung und Entwicklung. Sein robustes Design und seine benutzerfreundliche Softwareschnittstelle machen es einfach, Bilder von höchster Qualität für ihre Forschung einzurichten und zu bedienen.