Gebraucht PHILIPS / FEI Phenom #293802174 zu verkaufen

ID: 293802174
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI Phenom scanning electron microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes bildgebendes und analytisches Instrument, das eine überlegene Auflösung und Vielseitigkeit bietet. FEI Phenom bietet beispiellose Leistung in der Probenvorbereitung, Bildgebung, Analyse und 3D-Rekonstruktion. PHILIPS Phenom ist eines der fortschrittlichsten Rasterelektronenmikroskope, das eine hochauflösende Bildgebung und 3D-Rekonstruktion bietet. Phenom hat ein ultraschnelles Signalerfassungssystem (USA). Dieses System reduziert die Bildaufnahmezeit, ohne die Bildqualität zu beeinträchtigen, was eine überlegene 3D-Rekonstruktionsfähigkeit ermöglicht. PHILIPS/FEI Phenom bietet zwei Detektoren: SE-Detektor, der hervorragende Auflösung und Kontrast bietet, und einen In-Linsen-SE-Detektor, der hervorragende Oberflächentopographie und Informationen über kleine Merkmale wie Risse, Kontamination und Merkmale mit Elementen mit geringer Ordnungszahl bietet. FEI Phenom hat eine Reihe von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten. Es kann einen automatisierten Schaltfokus und Nähen von überlappenden Feldern durchführen, was eine großflächige Abbildung bis zu 2,25 mm x 2,25 mm ermöglicht. PHILIPS Phenom verfügt auch über EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) Fähigkeiten, die Elementaranalysen ermöglichen. Dies geschieht unter Ausnutzung charakteristischer Röntgenzeilenemissionen aus der Probe zur Messung der Pegel vorhandener Elemente. Phänom hat eine minimale räumliche Auflösung von 1 Nanometer (1nm) im SE-Modus und 10-20nm Auflösung im MINT-Modus. PHILIPS/FEI Phenom hat auch die Fähigkeit, Phasenkontrastbilder zu sammeln. Dies geschieht durch die Nutzung von Wechselwirkungen zwischen den Elektronen und der Probenphase, um Kontraste zu erzeugen, die eine höhere Auflösung ergeben und eine Abbildung von nichtleitenden Materialien ermöglichen. Darüber hinaus hat FEI Phenom die Fähigkeit, 3D-Rekonstruktionen größerer Funktionen durchzuführen. Dies geschieht durch Stapeln mehrerer Bilder mit präziser Positionsgenauigkeit, die mit der Scanstufe erfasst werden. Anschließend erfolgt die 3D-Wiedergabe der Stapelbilder mittels dedizierter Software und ermöglicht präzise 3D-Ansichten und Messungen der Probe. PHILIPS Phenom ist eines der leistungsstärksten und vielseitigsten SEMs auf dem Markt und wird von Industrie, Regierung und Forschungseinrichtungen für die modernsten bildgebenden und analytischen Anforderungen eingesetzt.
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