Gebraucht PHILIPS / FEI Phenom #9362022 zu verkaufen

Das PHILIPS/FEI Phenom Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Instrument zur Oberflächenanalyse und Bildgebung einer Vielzahl von Proben mit beispielloser Detailtreue und Genauigkeit. Es ist für die Nanometer-Auflösung mit einem Sichtfeld von bis zu 30 µm ausgelegt. Dieses Modell verwendet ein spezielles elektronenoptisches Design, um eine hohe Auflösung zu erzielen und eine höhere Stabilität während der Bildgebung zu gewährleisten. Die innovative Technologie besteht aus einer einzigartigen Kombination aus einer In-Column-Primärelektronenlinse und einer In-Column-Präzession-Brecherlinse für die Hochvergrößerung von großen und kleinen Partikeln. FEI Phenom ist in der Lage, bis zu 20 nm Auflösung Bildgebung und bis zu 2000X Vergrößerung für extrem detaillierte Scans. Sein spezialisiertes Design umfasst einen einzigartigen Sekundärelektronendetektor zur Maximierung der Signalantwort und zur Verringerung von Probenschäden unter rauen Betriebsbedingungen. Dies verbessert seine Fähigkeit zur Abbildung empfindlicher Proben erheblich. Darüber hinaus machen die benutzerfreundliche Software und automatisierte Funktionen den Betrieb schnell und einfach. Das SEM bietet auch Hochgeschwindigkeits-Bilderfassung und die Fähigkeit, Bilder in voller Auflösung in Echtzeit zu fördern. Die Probenstufe kann einfach in der X-Y-Ebene zur präzisen Ausrichtung bewegt werden, und der Hochgeschwindigkeits-Scan-Modus ermöglicht eine schnelle Bildgebung. Zusätzlich kann die Probe für maximale Flexibilität bei der Probenbewegung und Ausrichtung fein auf den optionalen Ausrichtlaser ausgerichtet werden. PHILIPS Phenom ist perfekt für die Oberflächenanalyse einer Vielzahl von Proben, von organischen Objekten bis hin zu nichtmetallischen Materialien wie Keramik, Verbundwerkstoffen und Polymeren. Die überlegene Auflösung des SEM ermöglicht eine detaillierte Abbildung von Merkmalen wie Korngrenzen, Fasern und Partikeln. Darüber hinaus sorgen das große Sichtfeld und das verbesserte Signal-Rausch-Verhältnis für eine verbesserte Auflösung von dünnen Schichten und kleinen Funktionen. Insgesamt ist Phenom ein leistungsfähiges Bildgebungs- und Analysewerkzeug für die nanoskalige Bildgebung mit einer Reihe von Fähigkeiten und Funktionen. Es bietet ein hohes Maß an Details und Genauigkeit sowie robuste, einfach zu bedienende Software und automatisierten Betrieb. Mit seiner hohen Auflösung, seinem breiten Sichtfeld und seinem vielseitigen Design ist es ein ideales Werkzeug für Anwendungen in der Oberflächenanalyse, Bildgebung und Nanotechnologie.