Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #9315970 zu verkaufen

ID: 9315970
Scanning Electron Microscope (SEM) Dual beam With Ga ion source Acceleration voltage: 2-30kV Cutting-edge system Imaging and micro machining Surface imaging resolution: 1nm Resolution: 1.2nm at 30kV with SE detector FIB Resolution: 5-7nm ESEM Resolution: 1.5nm.
PHILIPS/FEI Quanta 200 3D ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Reihe von Funktionen für bildgebende, analytische und messtechnische Anwendungen bietet. Es ist ein hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das mehr Leistung, Genauigkeit und Flexibilität verspricht als andere SEM-Modelle. Als sekundärer Elektronendetektor verfügt FEI Quanta 200 3D über einen Backscatter-Elektronendetektor (BED), der eine hybride Konfiguration aufweist, die sowohl ein konventionelles BED als auch ein hocheffizientes SuperFEG enthält. PHILIPS Quanta 200 3D bietet eine maximale Vergrößerung von bis zu 500.000 Mal und bietet eine außergewöhnliche Auflösung. Das Instrument ist mit einer einzigartigen automatischen Ausrichtungsstufe ausgestattet, die es den Benutzern ermöglicht, Musterstrukturen schnell und genau zu profilieren und automatisch auszurichten. Die Quanta 200 3D verfügt außerdem über einen 20kV festen Strahldetektor, der eine hervorragende Auflösung und Stabilität in bildgebenden Proben gewährleistet. Darüber hinaus bietet die überlegene Elektronenoptik von PHILIPS/FEI Quanta 200 3D Anwendern maximale Flexibilität zur Optimierung von Bildgebungsparametern, wie Stromversorgungsgrenzen und Quellenspannung. FEI Quanta 200 3D verfügt auch über eine High-Speed-CCD-Kamera, die Echtzeit-Beobachtung und -Analyse ermöglicht. Die Präzision und Stabilität von PHILIPS Quanta 200 3D macht es besonders gut geeignet für die Abbildung von dreidimensionalen Strukturen in Betriebsumgebungen. Seine erweiterten Funktionen, wie der berührungslose In-Column-Detektor und erweiterte Bildverarbeitungsalgorithmen, ermöglichen es Benutzern, komplexe, dreidimensionale Strukturen genau zu visualisieren und zu steuern. Darüber hinaus bietet Quanta 200 3D eine Reihe von Optionen für Strahlanalyse und Messtechnik. Dazu gehören das Advanced Electron Backscatter Pattern (EBSP) Spektrometer, das Energy Dispersive X-Ray (EDX) Spektrometer und der Residual Gas Analyzer (RGA). Durch die Kombination dieser Optionen mit dem SuperFEG und dem Standard-SEM-Detektor können Anwender eine schnelle, genaue Datenerfassung und -analyse erreichen. Abschließend ist PHILIPS/FEI Quanta 200 3D ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das wesentliche Vorteile für bildgebende, analytische und messtechnische Anwendungen bietet. Die außergewöhnliche Auflösung, Genauigkeit und Flexibilität des Instruments macht es ideal für die Visualisierung und Steuerung komplexer dreidimensionaler Strukturen, insbesondere in komplexen Betriebsumgebungen. Darüber hinaus bieten seine fortschrittlichen Funktionen eine schnelle, genaue Datenerfassung und -analyse, und seine Palette von Strahlanalyse- und Messtechnikoptionen ermöglichen es Benutzern, Probeneigenschaften schnell und ohne manuelle Eingriffe zu profilieren und zu optimieren. Alles in allem ist FEI Quanta 200 3D ein wertvolles, leistungsstarkes Werkzeug im modernen Labor.
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