Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293741838 zu verkaufen
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ID: 293741838
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten
ESEM Mode
ETD Detector
HTSU
NYCE Motion controller
Lo-vac LFD Detector
Back Scatter Detector (BSD)
Hard Disk Drive (HDD)
PC.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das beispiellose bildgebende und analytische Fähigkeiten für verschiedene Forschungs- und Industrieanwendungen bietet. Dieses Hochleistungsinstrument wurde entwickelt, um den Anforderungen der fortschrittlichen Mikroskopie gerecht zu werden und bietet Forschern leistungsstarke Werkzeuge zur Charakterisierung der Morphologie, Zusammensetzung und Struktur einer Vielzahl von Materialien. Mit einer Feldemissionskanone (FEG) als Elektronenquelle bietet FEI Quanta 200 FEG eine überlegene Elektronenstrahlhelligkeit und -stabilität im Vergleich zu herkömmlichen thermionischen Elektronenquellen. Dies führt zu einer verbesserten Bildauflösung und einem Signal-Rausch-Verhältnis, was eine detaillierte Visualisierung von Nanostrukturen und feinen Oberflächenmerkmalen mit außergewöhnlicher Klarheit und Kontrast ermöglicht. PHILIPS Quanta 200 FEG ist mit einer vielseitigen und hoch konfigurierbaren Kammer ausgestattet, die eine breite Palette von Probentypen, -größen und -formen aufnimmt. Die große Kammergröße ermöglicht die Analyse von Proben von kleinen Nanopartikeln bis hin zu größeren Proben, während der variable Druckmodus eine Abbildung von nicht leitenden oder hydratisierten Proben ohne Beschichtung ermöglicht. Eine der Hauptstärken von Quanta 200 FEG ist seine erweiterten bildgebenden Fähigkeiten, die hochauflösende bildgebende Modi wie Sekundärelektron (SE) und rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE) umfassen. Das Instrument kann im SE-Modus eine Sub-Nanometer-Auflösung erzielen, sodass Forscher feine Oberflächendetails und Nanostrukturen mit außergewöhnlicher Klarheit visualisieren können. Darüber hinaus liefert der BSE-Bildgebungsmodus wertvolle kompositorische Kontrastinformationen und ist somit ideal für die Analyse der Materialzusammensetzung und -verteilung. Neben der Bildgebung bietet PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG eine Reihe von analytischen Fähigkeiten zur tiefgreifenden Materialcharakterisierung. Das fortschrittliche energiedispersive Röntgenspektroskopie-System (EDS) ermöglicht die elementare Analyse und Abbildung mit hoher Empfindlichkeit und räumlicher Auflösung. Forscher können die elementare Zusammensetzung von Proben genau identifizieren und quantifizieren und gewinnen wertvolle Erkenntnisse über Materialeigenschaften und chemische Zusammensetzung. Außerdem werden FEI Quanten 200 FEG mit der Elektronrückstreuungsbeugung (EBSD) Fähigkeiten für die crystallographic Analyse von Materialien ausgestattet. Auf diese Weise können Forscher die mikrostrukturalen Eigenschaften von Proben untersuchen, einschließlich Kornorientierung, Phasenerkennung und Texturanalyse. Das EBSD-System auf PHILIPS Quanta 200 FEG liefert wertvolle Informationen zum Studium von Materialien auf Kornebene und zum Verständnis ihrer mechanischen und thermischen Eigenschaften. Quanta 200 FEG wird durch benutzerfreundliche Software gesteuert, die eine intuitive Bedienung und nahtlose Integration von Bildgebungs- und Analysefunktionen ermöglicht. Das Instrument bietet eine Reihe von Automatisierungsfunktionen für mehr Produktivität, einschließlich Autofokus, automatische Stigmatisierung und automatisierte Bilderfassung. Forscher können Daten effizient erfassen und verarbeiten, Zeit sparen und schnelle Einblicke in die Beispieleigenschaften ermöglichen. Abschließend ist PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das erweiterte bildgebende und analytische Fähigkeiten für eine breite Palette von Anwendungen bietet. Auf dieses leistungsstarke Instrument können Forscher detaillierte Einblicke in die Materialeigenschaften geben und bahnbrechende Entdeckungen und Fortschritte in verschiedenen Bereichen der Wissenschaft und Technik ermöglichen.
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