Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293826926 zu verkaufen
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ID: 293826926
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM)
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS/EDX) system
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
GENESIS XM 4i with Si (Li)
Liquid nitrogen dewar: 10 liters
Large specimen chamber
Power transformer
Motorized stage
Rotary pump
Control table
Water vapor
Spatial resolution: 15 kV: 2.1 nm, 1 kV: 5 nm
Low vacuum (LV): P = 10 to 130 Pa
High vacuum (HV): P<6.10-4 Pa
Operating voltage: 0.5-30 kV
Peltier stage: -20°C - +100°C
Probe current: < 100 nA
ESEM: P = 10 to 2700 Pa
Heating stage: 1500°C
(2) Turbo molecular pumps
(2) Ionic pumps
(3) Screens
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine außergewöhnlichen bildgebenden Fähigkeiten und Vielseitigkeit in einer Vielzahl wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen bekannt ist. Ausgestattet mit einer Feldemissionskanone (FEG) als Elektronenquelle bietet dieses Instrument eine hochauflösende Bildgebung, eine hervorragende Signalerkennung und eine präzise Strahlkontrolle für eine detaillierte Analyse von Proben auf nanoskaliger Ebene. Herzstück von FEI Quanta 200 FEG ist seine Feldemissionskanone, die einen fokussierten Elektronenstrahl mit hoher Helligkeit und Kohärenz erzeugt. Diese Elektronenquelle bietet eine überlegene räumliche Auflösung im Vergleich zu herkömmlichen thermionischen Quellen, so dass das Mikroskop Subnanometer-Bildgebungsfähigkeiten erreichen kann. Das FEG bietet zudem eine verbesserte Stabilität und Langzeitleistung und eignet sich somit ideal für anspruchsvolle bildgebende Aufgaben, die gleichbleibend hochwertige Ergebnisse erfordern. PHILIPS Quanta 200 FEG verfügt über eine vielseitige Elektronenoptik, mit der der Benutzer den Strahlstrom, die Beschleunigungsspannung und die Punktgröße anpassen kann, um die Bildqualität und den Kontrast für verschiedene Arten von Proben zu optimieren. Das Mikroskop kann in Abhängigkeit von den Anforderungen des Experiments in einem Bereich von Beschleunigungsspannungen arbeiten, typischerweise von einigen hundert Volt bis zu Dutzenden von Kilovolt. Diese Flexibilität ermöglicht die Abbildung unterschiedlichster Materialien, von biologischen Proben bis hin zu Halbleiterbauelementen, mit unterschiedlichen leitenden Eigenschaften. Eines der Hauptmerkmale von Quanta 200 FEG ist sein fortschrittliches Detektionssystem zum Sammeln von Sekundärelektronen (SE) und rückgestreuten Elektronen (BSE), die von der Probenoberfläche emittiert werden. Das Mikroskop ist mit hochempfindlichen Detektoren ausgestattet, die energiereiche Elektronen mit hohem Wirkungsgrad erfassen können, was einen verbesserten Kontrast und topographische Informationen in den aufgenommenen Bildern ermöglicht. Der SE-Detektor wird häufig für die Oberflächenmorphologie-Analyse verwendet, während der BSE-Detektor ideal für kompositorische Bildgebungs- und Materialkontraststudien ist. Neben der hochauflösenden Bildgebung bietet PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG eine Reihe von analytischen Fähigkeiten zur Charakterisierung von Proben im Nanoskalibereich. Das Mikroskop kann unter anderem mit verschiedenen Detektoren und Zubehör zur Durchführung der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS), Elektronenrückstreuung (EBSD) und Kathodolumineszenzanalyse (CL) ausgestattet werden. Diese Analysetechniken liefern wertvolle zusammensetzende, kristallographische und optische Informationen über die Probe und verbessern das Gesamtverständnis ihrer Eigenschaften und ihres Verhaltens. FEI Quanta 200 FEG ist mit benutzerfreundlichen Software-Schnittstellen und intuitiven Bedienelementen für eine effiziente Bedienung und Datenerfassung konzipiert. Die Mikroskopsoftware ermöglicht eine einfache Navigation, bildgebende Parameteranpassungen und Bildverarbeitung, so dass Forscher und Ingenieure schnell hochwertige Ergebnisse erzielen können. Das Gerät unterstützt auch Automatisierung und Scripting für Batch-Imaging und Analyseaufgaben, was die Produktivität und Reproduzierbarkeit in komplexen Experimenten verbessert. Abschließend ist das PHILIPS Quanta 200 FEG Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes Werkzeug für die hochauflösende Bildgebung und erweiterte Analyse von nanoskaligen Proben. Mit FEG-Elektronenquelle, vielseitiger Optikmaschine, fortschrittlichen Detektoren und analytischen Fähigkeiten bietet dieses Instrument Forschern und Branchenexperten eine Plattform zur tiefgreifenden Charakterisierung und zum Verständnis unterschiedlichster Materialien und Strukturen. Quanta 200 FEG zeichnet sich durch hervorragende Leistung, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit aus, was es zu einem wertvollen Kapital in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen und industriellen Anwendungen macht.
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