Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200 #293815176 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Quanta 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur routinemäßigen Materialcharakterisierung und Fehleranalyse. Dieses vielseitige Instrument kombiniert ein modernes Design mit fortschrittlichen technologischen Eigenschaften und ermöglicht die Abbildung von hochauflösender Struktur mit minimaler Probenvorbereitung. FEI Quanta 200 ist sowohl zur bildgebenden als auch zur quantitativen Analyse in der Lage. Zu den hochauflösenden Abbildungsmöglichkeiten des Instruments gehören die sekundäre und rückgestreute Elektronenbildgebung sowie die Röntgenmikroanalyse. Der bildgebende Gatan UltraScan 4K MONO Detektor ist in der Lage, detaillierte Bilder von bis zu 4.000x Vergrößerung zu erzeugen, und erfasst Bilder von Oberflächen bis zu 0,8 µm Auflösung. Das Gerät verfügt außerdem über eine Hochleistungs-IBED-Pistole mit hoher Spotenergie, die eine Bildgebung bei niedrigem Vakuum ermöglicht. Dies macht es ideal für Niedervakuum und variable Druckanwendungen. Die Vakuumkammer von PHILIPS Quanta 200 ist mit Ionenpumpen ausgestattet, die eine bessere Bildgebung und Analyse nicht leitender Proben ermöglichen. Weiterhin ermöglicht die hohe Pumpgeschwindigkeit der Ionenpumpen schnelle Schwankungen des Vakuumspiegels. Der integrierte Energiefilter ermöglicht eine gleichzeitige Bilderfassung, was die Untersuchungszeit reduziert. Der Filter kann an die Eigenschaften der Probe angepasst werden, und eine Reihe von Elementen kann beobachtet werden. Der Filter kann auch im DXA- und EDS-EDX-Modus betrieben werden, um eine hochpräzise Elementaranalyse zu ermöglichen. Schließlich bietet das Instrument eine Reihe von automatisierten Steuerungen und Datenerfassungssoftware. Auf diese Weise können Benutzer einfach durch das Instrument navigieren und Daten schnell erfassen und überprüfen. Die Software ist auch in der Lage, automatisierte Messungen durchzuführen und automatisierte Ergebnisberichte zu erstellen. Insgesamt ist Quanta 200 ein hochfähiges SEM, das fortschrittliche Technologien verwendet, um eine detaillierte und genaue Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben zu ermöglichen. Mit seinen erweiterten Funktionen und seiner umfassenden Funktionalität ist dieses SEM ein ideales Werkzeug für die Werkstoffcharakterisierung und Fehleranalyse.