Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200 #9305909 zu verkaufen

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ID: 9305909
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) Everhart Thornley SE Detector (ETD) for high vacuum Vacuum pump Detector: ESEM Mode Multi and single pin stub holder Tungsten source Motorized stages: X, Y, Z (2) EDWARDS Rotary pumps for the vacuum Accelerating voltage: 1-30 kV Magnification range: 50x - 80,000x Operating system: Windows 2000 professional Image resolution options: 456 x 456 Pixels 684 x 684 Pixels 1024 x 1024 Pixels 2048 x 2048 Pixels Faulty parts: No communication with filament Thermoelectric stage for use in ESEM mode non-functional Starting process of XT microscope program stops at function.
Das PHILIPS/FEI Quanta 200 Elektronenmikroskop ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das den hohen Anforderungen der modernen Forschung gerecht wird. Es bietet eine hervorragende topographische Auflösung und eine breite Palette von Scanparametern, wodurch eine breite Palette von Materialien detailliert untersucht werden kann. FEI Quanta 200 hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 40 kV, die verwendet wird, um den Elektronenstrahl zu beschleunigen, um ein sehr detailliertes Signal zu erzeugen. Mit der Probe in einer UHV-Umgebung ermöglicht die präzise Steuerung des Elektronenstrahls eine detaillierte Abbildung und Analyse. Ein fortschrittlicher Bildprozessor ermöglicht die präzise Steuerung der Scanparameter, um das energiedispersive Spektrometrie (EDS) Signalspektrum für eine bestmögliche Energieauflösung einzustellen. Der resultierende Hochfrequenzbildverstärker sorgt für Bilder beispielloser Auflösung, mit ausgezeichnetem Kantenkontrast und Bilddrifting. Das Gerät verfügt außerdem über ein integriertes SEM-Mikroanalysesystem mit integriertem EDS-Detektor und Kamerasystem, das Geschwindigkeit und hohe Bildaufnahmegeschwindigkeiten sowie eine schnelle Analyse chemischer Elemente ermöglicht. Dies in Verbindung mit 3D-Analysefunktionen macht PHILIPS Quanta 200 zu einem leistungsstarken Werkzeug für SEM-Anwender. Quanta 200 verfügt auch über eine breite Palette von zusätzlichen Funktionen, ideal für maßstabsgetreue Bildgebung. Sein Sekundärelektronen (SE) -Detektionssystem optimiert die einfallende Strahllithographie, während ein längeres Arbeitsabstandsmodul für größere Manipulationsmöglichkeiten in komplexen Proben angebracht werden kann. Die Kombination dieser Fülle von Funktionen mit fortschrittlicher Softwaresteuerung gewährleistet die Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und Zuverlässigkeit von PHILIPS/FEI Quanta 200. Die intuitive Software ermöglicht sogar eine automatisierte Annotation und Ausrichtung, so dass Anwender schnell einen tieferen Einblick in die Probe erhalten, vom Makro- bis zum Nanometer-Maßstab. Letztlich ist das FEI Quanta 200 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsfähiges Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, das eine detaillierte Bildgebung und Analyse einer breiten Palette von Materialien ermöglicht. Mit großer Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Reproduzierbarkeit erleichtert das Mikroskop die Erkundung und Aufdeckung auch kleinster Details.
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