Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200F #293659188 zu verkaufen

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ID: 293659188
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM).
PHILIPS/FEI Quanta 200F Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Tandem, Feldemission, variable Druckfeld Emission Rasterelektronenmikroskop. Es arbeitet mit einem Energiespannungsbereich von 5-30kV und hat eine hohe Beschleunigungsspannung (35kV). Dieses Mikroskop beinhaltet ein Niedrig- und Hochvakuum und ein variables Druckgerät. FEI Quanta 200F SEM ist in der Lage, sowohl im Niedrig- als auch im Hochvakuum-Modus zu arbeiten, was eine bessere Erkennung und Analyse von Proben in einer Vielzahl von Umgebungen ermöglicht. PHILIPS QUANTA 200 F verfügt über ein integriertes Umweltkontrollsystem, das die Temperatur und Feuchtigkeit des Objekts reguliert. Der Benutzer kann die Temperatur von 0 ° C bis + 60 ° C und die relative Luftfeuchtigkeit von 0% bis 95% steuern. Besonders wertvoll ist dieses Merkmal bei Anwendungen wie Fehleranalyse und Spannungsanalyse, bei denen Temperatur und Feuchtigkeit eine wichtige Rolle bei der Bestimmung von Probenparametern spielen. Mit seinem flexiblen Design kann PHILIPS/FEI QUANTA 200 F für eine breite Palette von SEM-Anwendungen wie Fehleranalyse, Spannungsanalyse, Materialwissenschaft und Prozesssteuerung verwendet werden. Es weist einen integrierten Laserdeflektor auf, der eine automatische Befüllung einer vorgegebenen Anzahl von Probenproben ermöglicht. Die doppelte Detektionseinheit ermöglicht die gleichzeitige Detektion von Sekundärelektronen und transmittierten Elektronen, was zu einer besseren Auflösung und einem besseren Kontrast führt. PHILIPS Quanta 200F ist eine ideale Wahl für Forschung, Entwicklung und industrielle Anwender. Seine große Kammergröße (120mm x 120mm) ermöglicht es, große Proben zu analysieren, ohne die Auflösung oder den Durchsatz zu beeinträchtigen. Darüber hinaus bietet die variable Druckkammer eine kundenspezifische Umgebung für die hochauflösende Bildgebung und Prozessanalyse empfindlicher Proben. Das Design von FEI QUANTA 200 F ist benutzerfreundlich und bietet eine erweiterte Benutzerkontrolle über die Maschine. Es ist mit automatisierter Bühnensteuerung für eine schnelle Bewegung der Probe, automatische Kalibrierung von Detektoren und automatisierte Ausrichtung für die Probenpositionierung ausgestattet. Darüber hinaus ist es aufgrund seiner hohen Geschwindigkeit und Genauigkeit eine ausgezeichnete Wahl für die Lokalisierung und Feinabstimmung von Details und die Erkennung sehr kleiner Merkmale oder Mängel. Insgesamt ist Quanta 200F ein leistungsstarkes und vielseitiges Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop. Die Kombination aus hoher Beschleunigungsspannung, flexiblem Design, integriertem Umweltkontrollwerkzeug, großer Kammergröße, leistungsstarken Detektoren, automatisierter Bühnensteuerung und benutzerfreundlichem Design macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.
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