Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 200F #9362641 zu verkaufen

ID: 9362641
Weinlese: 2007
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) Chamber pressure: 0.1 - 27 mbar 2007 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 200F Scanning Electron Microscope (SEM) bietet vielseitige Bildgebung für Forscher und Ingenieure in den Bereichen Materialwissenschaft und Industrie. Es bietet eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, um überlegene Bilder von Mikrostrukturen im Nanometermaßstab bereitzustellen. FEI Quanta 200F hat einen SNR (Signal-Rausch-Verhältnis) Booster In-Lens Sekundärelektronendetektor, eine Auflösung von 2 nm zu erreichen, um eine detaillierte Analyse der Oberflächen zu ermöglichen. Mit diesem Detektor können elektronentransparentere Proben abgebildet werden, was ideal zur Charakterisierung von Mikrostrukturmerkmalen in Halbleiterbauelementen und biologischen Proben geeignet ist. Das SEM hat eine Sub-Nanoauflösung, die sich ideal für eine optimierte Oberflächenbildgebung eignet. Es hat einen Arbeitsabstand von 20 mm bis 1 mm, was dem Anwender eine präzise Kontrolle über den Arbeitsabstand und die Probenbildgebung des Mikroskops ermöglicht. Das druckkompensierte Beam Blanking Electrostatic System trägt dazu bei, die Auswirkungen von Umweltschwingungen auf die Probenbildgebung zu reduzieren. PHILIPS QUANTA 200 F verfügt über eine Vielzahl von bildgebenden Modi, um unterschiedlichen Forschungsanforderungen gerecht zu werden. Es hat Niederspannungs-rückgestreute Elektronenbildgebung für topographische Informationen und variablen Druck STEM-Modus mit einem großen Sichtfeld für ultrahochauflösende Abbildung. Benutzer können die Struktur einer Probe mit dem Nomarski Differential Interference Contrast Modus abbilden. Der automatisierte Feinabstimmungskollimator, die Elektronenstrahlgröße, die Beschleunigungsspannung und die Empfindlichkeit des Detektors machen PHILIPS Quanta 200F vielseitig einsetzbar. Zum Beispiel kann der Benutzer die Funktionen anpassen, um die beste Bildqualität mit der geringsten Zeit zu erhalten. Quanta 200F Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungen in einer Vielzahl von Branchen geeignet ist. Es bietet ein hochauflösendes Bild, zusammen mit einem vielseitigen Satz von bildgebenden Modi und automatisierten Feinabstimmungsfunktionen, um es eine gute Wahl für die Untersuchung von Mikrostrukturen und Materialien zu machen.
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