Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293600869 zu verkaufen

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ID: 293600869
Weinlese: 2009
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) OMNIPROBE 200 for lift out (3) Gases: Pt, XeF2 and W CL Centaurus detector EDAX: EDS, WDS, EBSD Magnum ion column Hard Disk Drive (HDD) PC Non-functional 2009 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG ist ein Feldemissionskanone (FEG) Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ultrahochauflösende Bildgebung und Analyse bietet. Dieses fortschrittliche Bildgebungssystem liefert Bilder der Probe in Nanometerauflösung. Es bietet auch eine breite Palette von Inspektionsmöglichkeiten, wie elementare Zusammensetzungsanalyse, Kartierung der Oberflächentopographie und flüchtige Materialanalyse. FEI Quanta 3D FEG verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), um einen Strahl mit einer sehr kleinen Elektronensonde zu erzeugen. Dieser eng fokussierte Strahl liefert atomare Details des zu inspizierenden Materials, so dass der Benutzer Materialfehler von erheblicher Größe und andere Merkmale identifizieren kann, die bei herkömmlichen SEM-Systemen nicht sichtbar sind. Das Strahlsteuerungssystem von PHILIPS QUANTA 3 D FEG sorgt für ein stabiles Strahlprofil und genauere Abbildungsergebnisse. PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG ermöglicht es Benutzern, eine breite Palette von Materialien zu analysieren, von Isolatoren über Leiter und Halbleiter. Dazu gehört die hochauflösende Beobachtung von Nanostrukturen, Gräben, Oberflächen und mikroskopischen Merkmalen verschiedener Dünnschichtmaterialien. Darüber hinaus kann der Elektronenstrahl des Systems mit der Probe interagieren, um Informationen über elementare Zusammensetzung und kristalline Strukturen bereitzustellen. QUANTA 3 D FEG ist mit zahlreichen Bildgebungs- und Analysefunktionen ausgestattet, mit denen Anwender eine Vielzahl von Materialeigenschaften erkennen können. Dies beinhaltet, aber nicht beschränkt auf, Elektronenrückstreubeugung, energiedispersive Röntgenspektroskopie, Formerkennung und Quantifizierung, Dünnschichtanalyse und Bildgebung, ergänzt durch eine Reihe von quantitativen Messsoftware. Insgesamt ist FEI QUANTA 3 D FEG ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, ideal für Anwendungen in Materialwissenschaften, Life Sciences und Nanotechnik. Diese Spitzentechnologie bietet überlegene Leistung, Stabilität und Flexibilität für eine breite Palette von hochauflösenden Bildgebungs- und Elementarkompositionsanalysen.
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