Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293669806 zu verkaufen

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ID: 293669806
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG ist ein umfassendes Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien und Anwendungen entwickelt wurde. Dieses Gerät bietet hervorragende Flexibilität, erweiterte Bildgebungsfunktionen und Robustheit für fortgeschrittene Anwendungen und Forschung. FEI Quanta 3D FEG hat ein einzigartiges Design, mit zwei Linsensystemen und einer nanoskaligen Feldemissionskanone (FEG). Diese Kombination ermöglicht ein hohes Maß an Vergrößerungsleistung und eine Vielzahl von Auflösungen. Die Feldemissionskanone (FEG) bietet mehrere Vorteile, darunter einen hohen Betrachtungswinkel, Abblendstrom und sehr geringe Hintergrundgeräusche. Es bietet auch eine breite Palette von Vergrößerungsleistung, mit bis zu 200.000x Vergrößerung zur Verfügung. Die lange Lebensdauer, die geringe Stromstärke und die hohe Auflösung des FEG machen es perfekt für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen. PHILIPS QUANTA 3 D FEG wurde entwickelt, um sowohl analytische als auch bildgebende Anforderungen zu erfüllen, sodass Benutzer detaillierte Informationen über Proben erhalten. Seine fortschrittliche Software hilft, Daten auf verschiedene Weise zu analysieren und hilft Benutzern, schnell auf die erforderlichen Ergebnisse zuzugreifen. Das Mikroskop ist zudem automatisiert und ermöglicht einen einfachen Zugriff auf verschiedene Bildgebungs- und Analyseparameter sowie eine Vielzahl verschiedener Bildgebungsmodi. QUANTA 3 D FEG bietet auch eine Reihe von Zubehör einschließlich einer kompletten Palette von Detektoren, wie den Sekundärelektronendetektor, rückgestreuten Elektronendetektor und Array von zusätzlichen energiedispersiven Detektoren. Diese helfen, die elementare Zusammensetzung einer Probe genau zu messen und zu quantifizieren. Darüber hinaus verfügt FEI QUANTA 3 D FEG über ein einzigartiges halbautomatisches Probenvorbereitungssystem, das hilft, die Probenumgebung zu erhalten und die Zeit für die Analyse einer Probe zu reduzieren. Schließlich verfügt das Mikroskop über ein integriertes Softwarepaket, mit dem Benutzer alle Einstellungen des Mikroskops steuern können, einschließlich Bildgröße, Helligkeit, Kontrast und mehr. Abschließend ist PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG ein umfassendes, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Flexibilität, erweiterte Bildgebungsfunktionen und Robustheit für fortgeschrittene Anwendungen und Forschung bietet. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist eine ideale Wahl für die Bildgebung von Materialien und die Analyse von Proben auf der Nanoskala.
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