Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9237481 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine beispiellose 3D-Abbildung von Materialien mit einer Vielzahl von analytischen Techniken ermöglicht. Es hat eine ausgezeichnete Auflösung von 0,7 nm für die Sammlung von hochauflösenden Bildern und elementaren Karten. FEI Quanta 3D FEG ist in der Lage, nanoskalige Merkmale, Verzerrungen und molekulare Strukturen in anspruchsvollen Umgebungen wie deren Auflösungstestergebnisse und Probendicke zu erkennen, machen es ideal für Anwendungen wie Halbleiterlithographie, Leiterplattenanalyse, metallographische Studien und Fehleranalyse. Es kann auch zur Bewertung von Oberflächenrauhigkeiten, Verschmutzungsgraden und Korrosionszuständen verwendet werden. PHILIPS QUANTA 3 D FEG verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), die auch als Kaltkathoden-Emissionskanone bekannt ist. Diese fortschrittliche Technologie ermöglicht dem Mikroskop eine verbesserte Leistung bei Nieder- und Hochspannungsbildern. Dies ist auf die Fähigkeit des FEG zurückzuführen, einen sehr stabilen und konsistenten Primärstrahlstrom über einen breiten Bereich von Betriebsspannungen aufrechtzuerhalten, was zu einer besseren Bildqualität und Stabilität führt. Darüber hinaus verfügt die Pistole über einen fein fokussierten Strahl, der die Analyse kleiner Merkmale sowie die Erkennung von Unvollkommenheiten in großen Bereichen erleichtert. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl fortschrittlicher Funktionen ausgestattet, um maximale Leistung zu gewährleisten und einen vollständigen Workflow zu gewährleisten. Dazu gehören ein vollautomatisches Probenaustauschsystem, ein Hochgeschwindigkeits-Scan-Controller, ein Schnellscan-System und ein automatisierter Niederspannungs-Backscatter-Detektor. Es verfügt außerdem über ein automatisiertes System zur Steuerung der Probentemperatur und der gasförmigen Umgebung, das eine optimale Analyse selbst der anspruchsvollsten Proben ermöglicht. Quanta 3D FEG bietet darüber hinaus einen hervorragenden Bildkontrast und ein Signal-Rausch-Verhältnis, mit dem wertvolle Informationen von einer Reihe von Probenoberflächen abgerufen werden können. Die Flexibilität des Mikroskops bietet dem Benutzer auch die Möglichkeit, die Betriebsspannung einzustellen, um einen weiten Bereich von Signalen zu erfassen. Dieses vielseitige Tool bietet eine hervorragende Auflösung und hervorragende Bildgebungsfunktionen und ist somit die ideale Wahl für jede Mikroskopieanwendung. Von Fehleranalysen und Halbleiterproduktion bis hin zur hochauflösenden Bildgebung und 3D-Bildgebung liefert PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG zuverlässige Ergebnisse mit Leichtigkeit und Genauigkeit.