Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9266789 zu verkaufen
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ID: 9266789
Dual beam SEM
Ion beam resolution: 7 nm at 30 kV (Beam coincident point)
Electron beam resolutions:
High vacuum
0.8 nm at 30 kV (STEM)
1.2 nm at 30 kV (SE)
2.5 nm at 30 kV (BSE)
2.9 nm at 1 kV (SE)
Low vacuum:
1.5 nm at 30 kV (SE)
2.5 nm at 30 kV (BSE)
2.9 nm at 3 kV (SE)
Extended low vacuum mode (ESEM)
1.5 nm at 30 kV (SE)
Chamber vacuum:
High vacuum: < 6e-4 Pa
Low vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM Vacuum: 10 to 4000 Pa
Pump down time (high-vacuum): < 3 Minutes
Power supply:
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: up to 200 nA.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das eine ultrahochauflösende Abbildung von Materialien über alle Felder hinweg ermöglicht. Dieses vielseitige Instrument kombiniert die fortschrittliche Field Emission Gun (FEG) -Technologie von FEI mit der robusten Scanelektronik von PHILIPS, um eine leistungsfähige Bildgebungsplattform für die nanoskalige Bildgebung und Analyse zu bieten. FEI Quanta 3D FEG ist eine kompakte Ausrüstung mit hochauflösender Bildgebung bei einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer. Mit einem breiten Sichtfeld von bis zu 50 Millimetern ist dieses System in der Lage, große Flächen einer Probe mit einem einzigen Scan sehr detailliert zu erfassen. Das Instrument ist so konzipiert, dass selbst komplexeste dreidimensionale Strukturen leicht aufgenommen werden können. Das Instrument verfügt über eine automatisierte Probenstufe, die sich bis zu 150 mm in der x-, y- und z-Achse bewegen kann, was die große Bildgebung im Sichtfeld erleichtert. Das Gerät verfügt zudem über eine fortschrittliche Elektronensäulensteuerung, die eine automatisierte Optimierung der optimalen Abbildungsbedingungen für unterschiedlichste Materialien ermöglicht. Dies ermöglicht es Routineanwendern, leicht qualitativ hochwertige Ergebnisse zu erzielen. Die Quanta 3D verfügt zudem über eine vielseitige automatisierte Probenhandhabungsmaschine. Diese fortschrittliche Technologie kann die Probenplatzierung für verschiedene Arten von Bildgebung wie Niederspannungs-Sekundärelektron, starkes In-Linsen-Sekundärelektron und Rückstreuelektronenbildgebung ändern. Die Quanta 3D kann auch fortschrittliche Elementaranalysen (EDX und EBSD) und Ionenstrahlanalysen (IBM und ISS) durchführen, um Kompositionsinformationen und Sub-Mikron-Details zu erfassen. Neben vielen Funktionen umfasst die Quanta 3D auch verschiedene Softwarepakete, die eine erweiterte Datenanalyse und -manipulation ermöglichen. Mit der Software können Anwender auf 3D-Rekonstruktionen, Oberflächenprofilierung und digitale Bildverarbeitung zugreifen. Diese Eigenschaften machen die Quanta 3D zu einem idealen Instrument zur Bildgebung und Charakterisierung unterschiedlichster Materialien.
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