Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D #293813482 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Quanta 3D ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von hochauflösenden bildgebenden Anwendungen entwickelt wurde. Es bietet die Möglichkeit, Bilder mit einer beispiellosen Auflösung von bis zu 0,7 Nanometern bei einer Spannung von bis zu 30 kV und einer maximalen Beschleunigungsspannung von 40 kV zu erfassen. FEI Quanta 3D kombiniert eine Reihe verschiedener Funktionen, um außergewöhnliche bildgebende Ergebnisse zu erzielen. Der 3D-EDS-Detektor bietet eine hohe Empfindlichkeit und einen dynamischen Bereich und liefert detaillierte elementare Informationen. Die Super X HD-Bibliothek bietet mehrere Elemente zur Charakterisierung der Materialzusammensetzung. Es bietet auch eine Sample-to-Sample-Scan-Fähigkeit und eine automatisierte Bild-Nähfunktion, um Bilder von großen Bereichen einfach zu erfassen. PHILIPS Quanta 3D ist mit einer ultrahochauflösenden GEMINI-Säule ausgestattet, die ultrahochauflösende Bilder bis auf 0,7 Nanometer aufnehmen kann. Es hat eine Kryo-Stufe, um die Abbildung von gefrorenen oder getrockneten Proben durchzuführen. Es bietet auch Variable Pressure Imaging (VPI) und ESEM-Modi, die eine Abbildung in nichtleitenden oder nassen Proben ermöglichen. Die fortschrittliche Software und die automatisierten Funktionen von Quanta 3D erleichtern die intuitive Nutzung und Datenverarbeitung. Dazu gehört die NaviSEM-Software, die Mikroskopieeinstellungen automatisiert und eine schnelle Bildaufnahme ermöglicht. Das Programm ermöglicht auch eine zweidimensionale und dreidimensionale Bildvisualisierung. FEI AnalySIS Software kann die von PHILIPS/FEI Quanta 3D erfassten Daten analysieren, so dass Benutzer Bildparameter anzeigen und Berichte erstellen können. FEI Quanta 3D ist ein vielseitiges Instrument, das sich für eine Reihe von bildgebenden Anwendungen eignet. Seine vielseitigen Probenstufen und fortgeschrittenen Abbildungsmodi bieten die Fähigkeit, empfindliche und nichtleitende Proben abzubilden. Es ist ein ausgezeichnetes Werkzeug für verschiedene Arten von Materialcharakterisierung, wie bildgebende organische und anorganische Materialien, quantifizierende Materialzusammensetzung, Überwachung der Kristallinität der Probe und Analyse der Oberflächenrauhigkeit.