Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D #293830914 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Quanta 3D ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur präzisen Bildgebung und Charakterisierung von Nanoskala-Merkmalen. Es ist für die hochauflösende Abbildung von Oberflächen, Topographien und Materialien auf Nanometer- und Atomwaagen optimiert. FEI Quanta 3D verfügt über eine breite Palette von bildgebenden Fähigkeiten, einschließlich der Abbildung von kristallinen Defekten, Korngrenzen und Nanostrukturen; Abbilden von hochauflösenden Spitzen für atomare Auflösungsbildgebung; und MINT-Fähigkeit. Weitere Merkmale sind die E-Beam-Lithographie zur Strukturierung kleiner Merkmale auf einem Substrat, der automatisierte Probenaustausch zur schnellen und einfachen Probencharakterisierung sowie eine große Auswahl an automatisierten und funktionell programmierbaren Funktionen. PHILIPS Quanta 3D verfügt auch über eine fortschrittliche optisch gekoppelte Umgebungsansicht, die klare Bilder von Proben in verschiedenen Umgebungen erfasst, vom Vakuum des SEM bis zum Druck eines nassen oder trockenen Antriebs. Dies ermöglicht eine dynamische Abbildung von Proben wie Trockenzell- und Gewebeproben. Quanta 3D Rasterelektronenmikroskop verwendet eine Kombination aus einem elektrostatischen und magnetischen Feld, um die Elektronen im Elektronenstrahl zu beschleunigen. Dies ermöglicht einstellbare Auflösungen von bis zu 10 Nanometern mit Elektronendosis-Management für minimierte Probenaufladung und verbesserten Bildkontrast. PHILIPS/FEI Quanta 3D wird von einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche begleitet, die alle Aspekte der SEM-Bedienung wie Auflösung, Vergrößerung und Strahlströme steuert. Darüber hinaus ist es mit verschiedenen Hard- und Software-Tools ausgestattet, um eine breite Palette von Bildern aus Mustern unterschiedlicher Größe zu erfassen. FEI Quanta 3D von FEI ist ein hervorragendes Werkzeug zur Nanoskala-Bildgebung und -Charakterisierung. Erweiterte Bildgebungsfunktionen in Kombination mit einer sehr intuitiven Benutzeroberfläche machen es zu einem der leistungsstärksten Instrumente zur Analyse von Nanomaterialien.