Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 3D #9163606 zu verkaufen

ID: 9163606
Dual Beam Tungsten FIB / SEM.
PHILIPS/FEI Quanta 3D ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Forschung in einer Vielzahl von Bereichen verwendet wird. Es ist in der Lage, beispiellose hochauflösende Bildgebung und Analyse, so dass es ein unschätzbares Werkzeug für die Erkundung der Nanowelt. FEI Quanta 3D verwendet eine innovative Feldemissionskanone für seine Elektronenquelle, die beispiellose Auflösungen ermöglicht. Sein ultraschnelles empfindliches 5-Achsen-Scan-Modul mit einer Schrittweite von 0,2 nm ermöglicht eine schnelle informationsdichte Abdeckung einer Probe und sorgt für maximale Bildqualität. Darüber hinaus ermöglicht die eingebaute Niedervakuum-Probenkammer die Untersuchung von Proben in verschiedenen Umgebungen, vom Ultrahochvakuum bis zum variablen Druck. PHILIPS Quanta 3D verfügt über einen hochempfindlichen energiedispersiven Spektroskopie (EDS) -Detektor, der in der Lage ist, Kompositionsdaten einer Probe mit überlegener elementarer Empfindlichkeit zu erfassen, während seine ultrastabilen Bildgebungsfunktionen zuverlässige kontrastreiche Bilder mit minimalen Instabilitäten bieten. Es verfügt auch über einen In-Linsen-Sekundärelektronendetektor, der eine hochempfindliche Abbildung der Oberfläche einer Probe ermöglicht und eine genaue Identifizierung und Abbildung von Oberflächenmerkmalen ermöglicht. Quanta 3D verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, die für die Bedienung durch Personal aller Erfahrungsstufen geeignet ist. Die schlanke Software macht es einfach, automatisierte Workflows einzurichten, sowie einfache Operationen wie Bildsubtraktion und Nähen, erweiterte Bildanalyse und 3D-Rekonstruktion zu ermöglichen. Zusammenfassend ist PHILIPS/FEI Quanta 3D Scanning Electron Microscope ein unschätzbares Werkzeug für die Forschung und bietet eine beispiellose Kombination aus Leistung und Benutzerfreundlichkeit. Mit seinem ultraschnellen Scan-Modul, hochauflösenden Bildern, kompositorischen Analysen und automatisierten Workflows ermöglicht es eine detaillierte nanoskalige Exploration einer Vielzahl von Proben.
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