Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 400 #293585905 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293585905
Scanning Electron Microscope (SEM)
Dispersive X-Ray detector
Ultra-thin detector window
Backscatter electron detector
USB controller:
DC-Isolated USB 2.0 Interface
HV-VAC Controller:
DAC Uni / Bipolar: ± 10 V (8 x 16 bit)
ADC for emission (5 x 10 bit)
VAC
Operating voltages
(16) Digital inputs and outputs
Security link to vacuum system
Control power supply
Turn-on of power supply
Emergency turn-off of electronics at malfunction
Module for deflection coils:
(2) Single deflection systems
(4) Double deflection systems
Magnification: 4 step and 16 bit
Scan rotation
Scan shift fine
Correction of tilt
Orthogonality
Rotation offset
Module with bipolar power supplies:
DAC for current/voltage supplies (8 x 16 bit)
Beam shift
Tilt coils
Image shift coils
Stigmator coils (8 pole)
Filament imaging
Stigmator image
Power supply: 4 x ±500 mA, 4 x ±10 V
Module for objective lens and condenser lenses:
Unipolar power supply
Objective lens: 2 x 16 bit DAC (coarse, fine), maximum 6.5 A
(2) Condenser lenses: 16 bit DAC, maximum 6.5 A
Image system:
Maximum pixels: 16384 x 16384
Pixel clock: 200 ns
D/A Converter for analog input signals (4 x 12 bit)
Counter for mapping (12 x 16 bit)
Simultaneous acquisition
(4) Analogs
(12) Digital input signals
Image acquisition
Windows 2000: Up to 10 (x86, x64)
Full screen mode
Slow scan
Mapping
Oversampling for noiseless images: Up to 32000
Line averaging
Frame averaging
Reduced area scan
ROI Scan
Qualitative and quantitative with EDS/WDS
AVI Function
Signal monitor to control image signals
Trigger inputs and clock outputs for point
Mains synchronization for slow scan
Thumbnail bar for acquired images
Image processing:
Image browser
Loading and saving of images file types: TIFF, BMP, JPEG, PNG, GIF
Auto save function
Creation of image sections
Image rotation
Image labeling functions
SEM Parameters
Power supply:
Analog power supplies: ±15 V, +5 V, +12 V
Switching power supply for high power objective and condenser lenses
Module for PMTs: 2 x 0 to 1.5 kV
Module for scintillator: 12 kV
Grid voltage: 0 V to 400 V.
PHILIPS/FEI Quanta 400, kurz Q400, ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in der Materialcharakterisierung und forensischen Analyse entwickelt wurde. Es verfügt über eine Feldemissionsquelle - eine kleine, lokalisierte Elektronenquelle im Herzen des SEM. Auf diese Weise kann das Instrument hochauflösende Elektronenbilder, Karten und Spektren auf einer Vielzahl von Probentypen sammeln. Die Q400 ist ein Festkörpersystem und benötigt daher keinen flüssigen Stickstoff zur Kühlung. Das System verfügt über einen großen digitalen Auflösungsregler, um genauen und präzisen Strahlstrom an der Probe zu liefern. Für die Bildgebung kann das Q400 kontrastreiche Bilder mit einer Auflösung von bis zu 0,5 nm liefern, was eine genaue Bestimmung der Oberflächentopographie ermöglicht. Darüber hinaus können seine SEM-Fähigkeiten verwendet werden, um chemische Zuordnungsinformationen mit EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) zu erhalten, was eine schnelle elementare Zuordnung über die Probenoberfläche ermöglicht. Um eine optimale SEM-Bildgebung und -Analyse zu gewährleisten, muss die Probe mit dem mitgelieferten „Standard-Dummy“ -Musterhalter Q400 vorzubereiten sein. Dies funktioniert, um Ladeeffekte auf die Probe zu reduzieren oder zu beseitigen. Die Untersuchung der Interaktion zwischen Oberflächen kann mit Hilfe des Latexkugelansatzes und der Kristallorientierung mittels des Goniometers untersucht werden. Unterhalb der Probenoberfläche kann die Q400 verwendet werden, um lokale Oberflächenstruktur durch das Abrufen einer größeren Fläche zu erforschen, indem eine Reihe von Bildern gesammelt wird. Diese können dann zusammengeführt und vernäht werden. Diese Stichfähigkeit ermöglicht es Forschern, weitere Bereiche detailliert für strukturelle und kompositorische Informationen zu erkunden. Die Erfassung von SEM-Bildern in Verbindung mit EDS-Mapping kann oft eine Reihe von Fragen auslösen. Beispielsweise die mittlere Korngröße einer Probe, die Größe und Verteilung mikrostruktureller Bestandteile oder jede andere morphologische oder Zusammensetzungsanalyse. Die Q400 unterstützt viele Softwareprogramme, die diese Fragen beantworten können. FEI Quanta 400 ist ein vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop mit zahlreichen Funktionen, die es ermöglichen, für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, von der Materialanalyse bis zur forensischen Untersuchung. Seine hochauflösenden Bildgebungs-, EDS-Mapping-, Goniometer-Befestigungs- und Oberflächenbildgebungsfunktionen bringen ihn vor seine Konkurrenten.
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