Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 400 #293670640 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Quanta 400 ist ein Hightech-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es verfügt über ein Feld-Emissionskanone (FEG) System, das kleine Emitter hat, um die Auflösung zu maximieren und die Probenaufladung zu minimieren. Sein energiedispersiver Röntgendetektor (EDX oder EDS) ist empfindlich auf die meisten Elemente des Periodensystems. Ergänzt wird dies durch einen Sekundärelektronendetektor (SE) und einen optionalen Rückstreuelektronendetektor (BE). FEI Quanta 400 zeichnet sich sowohl durch quantitative energiedispersive Spektroskopie (EDS) als auch durch qualitative EDS aus. Mit der quantitativen Technik kann man Spurenelementkonzentrationen genau messen. Das qualitative System erkennt Elemente, die in geringen Mengen vorhanden sind. Mit der Möglichkeit der Strahl-Proben-Strom-Messung (BSC) kann das Mikroskop die Probenladungsakkumulation beobachten. PHILIPS Quanta 400 hat eine maximale Vergrößerung von 500,000X und eine Auflösung von 1,2 nm. Es arbeitet im Niedervakuum-Modus, was bedeutet, dass es bei der Abbildung von nichtleitenden Oberflächen wirksam ist. Der SE-Detektor ist für die Abbildung nichtleitender Proben optimiert und der BE-Detektor für die Abbildung leitender Proben optimiert. Auf diese Weise lässt sich ein breites Spektrum an Materialien untersuchen, und ein einzelnes Exemplar kann einfach mit den SE- und BE-Detektoren untersucht werden. Quanta 400 verfügt auch über automatische Bühnenerkennung, für einfache Bewegung von Proben, und integrierte Probenvorbereitung und Reinigung. Seine Digitalkamera ermöglicht die direkte Beobachtung von Proben und die Schnittstelle ist einfach zu bedienen. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Quanta 400 ein fortschrittliches SEM, das detaillierte Bilder von Proben von der atomaren bis zur makroskopischen Ebene erzeugen kann. Es eignet sich für den Einsatz in verschiedenen Bereichen, einschließlich Materialwissenschaft, Geologie, Forensik und mehr. Seine breite Palette von Detektoren und hohe Auflösung machen es ideal für die detaillierte Analyse von beiden Arten von Oberflächen, leitfähig und nicht leitfähig.