Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 400 #293829906 zu verkaufen
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ID: 293829906
Scanning Electron Microscope (SEM)
Included:
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Sight detector
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Stream and INCA mics controllers / Electronics
Centaurus detector component
PFEIFFER Vacuum compact cold cathode gauge.
PHILIPS/FEI Quanta 400 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende bildgebende Anwendungen. Es verwendet eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Techniken, einschließlich rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung, Röntgenmikroanalyse, 3D-Topographie-Bestimmung, Teilchengröße und Morphologie Quantifizierung und Spannungskontrast. Diese Kombination von Fähigkeiten bietet Forschern ein leistungsfähiges Werkzeug zur Charakterisierung der chemischen, strukturellen und elektrischen Eigenschaften von Proben auf einer Mikroskala. Die Basisplattform der FEI Quanta 400 besteht aus einer Hochvakuumkammervakuumausrüstung, einer Probenstufe, einer elektronenoptischen Säule, einem Probenmanipulationssystem, einem digitalen Detektor und einer Computersteuereinheit. Die elektronenoptische Säule enthält eine fokussierte Elektronenkanone, die einen Elektronenstrahl mit variabler Punktgröße und Energie erzeugt, der schnell fokussiert und über die Oberfläche der Probe abgetastet werden kann. Die geladenen Teilchen wirken mit der Oberfläche der Probe zusammen, wodurch Elektronen emittiert oder absorbiert werden, was Informationen über die Zusammensetzung und Topographie der Probe liefert. Die Musterstufe auf PHILIPS Quanta 400 ist ein 5-Achsen-Design, das für die präzise Ausrichtung und Positionierung der Probe entwickelt wurde. Mit der Bühne können neben 3D-Topographie und Dual-Beam-Imaging sowohl Hoch- als auch Breitfeldbilder aufgenommen werden. Es ist in der Lage, Proben in Bezug auf den Elektronenstrom zu kippen, was eine hochpräzise Abbildungssteuerung ermöglicht. Der auf der Quanta 400 installierte digitale Detektor ist ein hochauflösender, dunkler Detektor, der für schnelle Bildgebung und Analyse optimiert ist. Es ist in der Lage, Elektronensignale von bis zu zwei Detektoren zu akzeptieren, was eine parallele Bildgebung und Mehrkanalanalyse ermöglicht. Die Hardware ermöglicht auch erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen, einschließlich Multi-Scale-Bildverbesserung, Dekonvolution und Schwellenwert. Die Computersteuerungsmaschine ermöglicht eine automatisierte, genaue Probensteuerung. Die Softwareschnittstelle vereinfacht die Benutzerinteraktion mit dem Instrument und erleichtert die Parameteranpassung. Zusätzlich kann das Steuerwerkzeug so konfiguriert werden, dass es Aufgaben wie automatisierte Tomographie, Partikelgrößenbildgebung und Hochvergrößerungsbildgebung ausführt. PHILIPS/FEI Quanta 400 bietet Anwendern eine leistungsstarke Multi-Mode-SEM-Plattform, die für eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysetechniken geeignet ist. Mit seiner Kombination aus fortschrittlichen Elektromagneten, genauer Probenmanipulation und digitaler Bildgebung zeichnet sich FEI Quanta 400 unter den besten Rasterelektronenmikroskopen für Forschungsanwendungen aus.
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