Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 450 FEG #293747589 zu verkaufen
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ID: 293747589
Scanning Electron Microscope (SEM)
PFEIFFER Compact cold cathode gauge
Electron beam resolution:
High vacuum:
1.2 nm at 30 kV (SED)
2.9 nm at 1 kV (SED)
Low vacuum:
1.5 nm at 30 kV (SED)
3.1 nm at 3 kV (SED)
Extended low-vacuum mode
1.4 nm at 30 kV (SED)
Detectors:
Everhart-Thornley SED
Low vacuum SED
Gaseous SE (used in ESEM mode)
IR-CCD
Chambers:
High-vacuum: < 6*10-4 Pa
Low-vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM-vacuum: 10 to 4000 Pa
X-Y-Z-Tilt-rotate motorized stage:
X = Y = 100 mm
Z = 60 mm
T= +70° to -5°
System control:
Graphical User Interface (GUI)
Resolution: 1280 x 1024
Keyboard
Optical mouse
Operating system: Windows XP
LCD Display, 19"
DVD / RW
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 450 FEG Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochmodernes Instrument zur Untersuchung von nanoskaligen Merkmalen in biologischen, industriellen und anderen Materialien. Seine Field Emission Gun (FEG) -Quelle bietet eine ultimative Auflösung von 0,7 Angströmen und eine hohe Helligkeit und Stabilität. Das Mikroskop kann magnetische, elektrische, optische und mechanische Zeichen einer Probe abbilden. FEI Quanta 450 FEG SEM hat mehrere bemerkenswerte Funktionen. Die großen Detektoren der Quanta 450 ermöglichen eine ultrahochauflösende Bildgebung mit unglaublich niedrigem Rauschpegel. Seine benutzergesteuerte Strahlblanker und divergente Detektor-Elektronik bieten verbesserten Kontrast und Flexibilität. Der „Smart SEM“ -Modus des Quanta 450 macht das Mikroskop benutzerfreundlich, indem es automatisch Parameter entsprechend der Probe und den Bedingungen optimiert. Die Quanta 450 zeichnet sich durch mehrere Abbildungsmodi aus. Dazu gehören Niedervakuum, Hochvakuum und Umweltbildgebung. Es enthält auch mehrere Abbildungsfilter wie Differentielle Phasenkontrastfilterung und Neigungskontrast mit Phasenverschiebung. Diese ermöglichen die Beobachtung ultrafeiner Merkmale in Proben. Die Quanta 450 enthält auch einen Rückstreuelektronendetektor, der die Abbildung von Merkmalen in hoher Schärfentiefe ermöglicht, während sein Sekundärelektronendetektor die Kontrastauflösung erhöht. Der filterlose Bildfilter automatisiert den Bildgebungsprozess, während seine motorisierte Stufe die Navigation über große Proben hinweg erleichtert. Die Quanta 450 ist mit einem vakuumarmen System ausgestattet, das Wärmeschäden minimiert und gleichzeitig die Probenintegrität bewahrt. Die Quanta 450 ist in der Lage, organische Proben bei Raumtemperatur abzubilden. Abschließend ist PHILIPS Quanta 450 FEG Scanning Electron Microscope ein fortschrittliches Instrument, das für die Nanoskala-Bildgebung entwickelt wurde. Es verfügt über eine Field Emission Gun (FEG) Quelle für ultrahochauflösende Bildgebung, sowie mehrere bildgebende Modi, Filter und Detektoren. Die motorisierte Stufe des Quanta 450 erleichtert auch die Navigation über Proben hinweg, während sein vakuumarmes System Probenintegrität und geringe thermische Schäden gewährleistet.
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