Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 450 #9200223 zu verkaufen

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ID: 9200223
Weinlese: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) Nano characterization: Metals and alloys Oxidation / Corrosion Fractures Welds Polished Sections Magnetic Superconducting materials Ceramics Composites Plastics Film / Coatings Geological sections Minerals Nanoprocesses: Hydration / Dehydration Wetting behaviour / Contact angle analysis Oxidation / Corrosion Tensile (Heat / Cooling) Crystallization / Phase transformation Soft materials: Polymers Pharmaceuticals Filters Gels Tissues Plant material Particles Porous materials Fibers Nano prototyping: Lithography EBID Essential specifications: Electron optics: High performance thermal emission SEM Fixed objective aperture Objective lens geometry: 45°C Maximum horizontal field width: 6.5 mm Distance (10 mm): 24.3 mm (65 mm) Accelerating voltage: 200 V - 30 kV Probe current: Up to 2 µA Magnification: 6 -1000000 x Electron beam resolution: High vacuum: 3.0 nm - 30 kV (SE) 4.0 nm - 30 kV (BSE) 8.0 nm - 3 kV (SE) Extended vacuum mode (ESEM): 3.0nm - 30 kV (SE) Detectors: Everhart thornley SED (secondary electron detector) Large field low vacuum SED (LFD) High sensitivity low kV (SS-BSED) Gaseous SED (GSED) (used in ESEM mode) 4-Quadrant solid-state (BSED) Scintillator (BSED / CLD) IR Camera for viewing sample in chamber Vacuum system: 1 x 250 l/s TMP (Turbomolecular pump) Beam gas path length: 10 mm / 2 mm Chamber vacuum: High: < 6e - 4 Pa Low: < 10 - 130 Pa ESEM: < 10 - 2600 Pa Evacuation time: High vacuum: ≤ 150 s ESEM (FEI Standard test procedures): ≤ 270 s Chamber: Size: Left to right 284 mm Analytical WD: 10 mm (8) Ports EDS take-off angle: 35°C Stage: X-Y: 100 mm Z: 60 mm Z clearance: 75 mm T: - 5° - 70° R: 360° Repeatability: 2 µm (x - y) Sample holders: Multi-stub Single stub mount Various wafer and custom Universal sample System control: 32-Bit graphical user interface: Windows XP Keyboard and optical mouse LCD Display, 19" SVGA 1280 x 1024 Joystick Manual user Image processor: 4096 x 3536 Pixels (~14 MP) File type: TIFF (8 / 16 bit) BMP / JPEG System options: Manual user interface Support PC (Monitor, 19") 2012 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 450 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochempfindliche bildgebende und analytische Anwendungen. Seine hochauflösenden Bilder machen es ideal für die Inspektion von Mikrostrukturen in Proben mit nanoskaligen Abmessungen. Das Mikroskop umfasst eine monochromierte Hochspannungs-Elektronenkanone, eine komplette Reihe von variablen Spannungsabbildungs- und Sekundärelektronendetektoren (SE), leistungsstarke Detektionssoftware und digitale Bildverarbeitungsfunktionen. FEI Quanta 450 ist ein leistungsstarkes Hochleistungs-SEM, das für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiterfehleranalyse, Materialstrukturanalyse und zerstörungsfreie Materialprüfung geeignet ist. Das System ist in der Lage, Auflösungen bis zu 1,1 nm, so dass eine hochpräzise Abbildung von nanoskaligen Strukturen. Das Mikroskop enthält eine Zeiss ECU-D1 monochromierte Elektronenkanone. Diese Feldemissionselektronenquelle hat eine Fleckgröße von 1 nm, eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit sowie eine geringe thermische Emission. Die Quelle ist auf einem X-Y manuellen Bewegungsmechanismus montiert, so dass sie genau über die Probe platziert werden kann, was zu geringer Drift und hoher Genauigkeit führt. PHILIPS Quanta 450 enthält eine komplette Suite von SE-Detektoren, einschließlich eines sekundären Elektronendetektors (SED) und eines Rückstreuelektronendetektors (BSD). Die Detektoren sind auf einem Y-Z manuellen Bewegungsmechanismus montiert, so dass sie genau um die Probe positioniert werden können. Dies ermöglicht eine präzise elementare Identifikation der Struktur mit kleinen Volumina. Die mit dem Mikroskop installierte Software erleichtert die Bedienung. Es umfasst zweidimensionale Bildgebung, dreidimensionale (3D) Rekonstruktion, Probenpositionierung und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Der bildgebende Teil der Software ist flexibel und benutzerfreundlich und ermöglicht eine Vielzahl von Bildeinstellungen und Verbesserungen. Die digitalen Bildverarbeitungsfunktionen des Mikroskops sind robust und bieten dem Anwender eine Reihe von Funktionen wie erweiterte Bildsegmentierung, quantitative Bildanalyse und Histogrammanalyse. Diese Bildgebung ist für anspruchsvolle Anwendungen in der Fehleranalyse unerlässlich. Insgesamt ist Quanta 450 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Strukturen entwickelt wurde. Die monochromierte Elektronenkanone mit einer Punktgröße von 1 nm, einer kompletten Suite von SE-Detektoren, Software und einem digitalen Bildverarbeitungssystem machen es ideal für die Inspektion von Mikrostrukturen in Halbleiter-, Material- und Geräteproben.
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