Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 450 #9200223 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9200223
Weinlese: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM)
Nano characterization:
Metals and alloys
Oxidation / Corrosion
Fractures
Welds
Polished
Sections
Magnetic
Superconducting materials
Ceramics
Composites
Plastics
Film / Coatings
Geological sections
Minerals
Nanoprocesses:
Hydration / Dehydration
Wetting behaviour / Contact angle analysis
Oxidation / Corrosion
Tensile (Heat / Cooling)
Crystallization / Phase transformation
Soft materials:
Polymers
Pharmaceuticals
Filters
Gels
Tissues
Plant material
Particles
Porous materials
Fibers
Nano prototyping:
Lithography
EBID
Essential specifications:
Electron optics:
High performance thermal emission SEM
Fixed objective aperture
Objective lens geometry: 45°C
Maximum horizontal field width: 6.5 mm
Distance (10 mm): 24.3 mm (65 mm)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2 µA
Magnification: 6 -1000000 x
Electron beam resolution:
High vacuum:
3.0 nm - 30 kV (SE)
4.0 nm - 30 kV (BSE)
8.0 nm - 3 kV (SE)
Extended vacuum mode (ESEM):
3.0nm - 30 kV (SE)
Detectors:
Everhart thornley SED (secondary electron detector)
Large field low vacuum SED (LFD)
High sensitivity low kV (SS-BSED)
Gaseous SED (GSED) (used in ESEM mode)
4-Quadrant solid-state (BSED)
Scintillator (BSED / CLD)
IR Camera for viewing sample in chamber
Vacuum system: 1 x 250 l/s TMP (Turbomolecular pump)
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Chamber vacuum:
High: < 6e - 4 Pa
Low: < 10 - 130 Pa
ESEM: < 10 - 2600 Pa
Evacuation time:
High vacuum: ≤ 150 s
ESEM (FEI Standard test procedures): ≤ 270 s
Chamber:
Size: Left to right 284 mm
Analytical WD: 10 mm
(8) Ports
EDS take-off angle: 35°C
Stage:
X-Y: 100 mm
Z: 60 mm
Z clearance: 75 mm
T: - 5° - 70°
R: 360°
Repeatability: 2 µm (x - y)
Sample holders:
Multi-stub
Single stub mount
Various wafer and custom
Universal sample
System control:
32-Bit graphical user interface: Windows XP
Keyboard and optical mouse
LCD Display, 19"
SVGA 1280 x 1024
Joystick
Manual user
Image processor:
4096 x 3536 Pixels (~14 MP)
File type:
TIFF (8 / 16 bit)
BMP / JPEG
System options:
Manual user interface
Support PC (Monitor, 19")
2012 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 450 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochempfindliche bildgebende und analytische Anwendungen. Seine hochauflösenden Bilder machen es ideal für die Inspektion von Mikrostrukturen in Proben mit nanoskaligen Abmessungen. Das Mikroskop umfasst eine monochromierte Hochspannungs-Elektronenkanone, eine komplette Reihe von variablen Spannungsabbildungs- und Sekundärelektronendetektoren (SE), leistungsstarke Detektionssoftware und digitale Bildverarbeitungsfunktionen. FEI Quanta 450 ist ein leistungsstarkes Hochleistungs-SEM, das für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiterfehleranalyse, Materialstrukturanalyse und zerstörungsfreie Materialprüfung geeignet ist. Das System ist in der Lage, Auflösungen bis zu 1,1 nm, so dass eine hochpräzise Abbildung von nanoskaligen Strukturen. Das Mikroskop enthält eine Zeiss ECU-D1 monochromierte Elektronenkanone. Diese Feldemissionselektronenquelle hat eine Fleckgröße von 1 nm, eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit sowie eine geringe thermische Emission. Die Quelle ist auf einem X-Y manuellen Bewegungsmechanismus montiert, so dass sie genau über die Probe platziert werden kann, was zu geringer Drift und hoher Genauigkeit führt. PHILIPS Quanta 450 enthält eine komplette Suite von SE-Detektoren, einschließlich eines sekundären Elektronendetektors (SED) und eines Rückstreuelektronendetektors (BSD). Die Detektoren sind auf einem Y-Z manuellen Bewegungsmechanismus montiert, so dass sie genau um die Probe positioniert werden können. Dies ermöglicht eine präzise elementare Identifikation der Struktur mit kleinen Volumina. Die mit dem Mikroskop installierte Software erleichtert die Bedienung. Es umfasst zweidimensionale Bildgebung, dreidimensionale (3D) Rekonstruktion, Probenpositionierung und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Der bildgebende Teil der Software ist flexibel und benutzerfreundlich und ermöglicht eine Vielzahl von Bildeinstellungen und Verbesserungen. Die digitalen Bildverarbeitungsfunktionen des Mikroskops sind robust und bieten dem Anwender eine Reihe von Funktionen wie erweiterte Bildsegmentierung, quantitative Bildanalyse und Histogrammanalyse. Diese Bildgebung ist für anspruchsvolle Anwendungen in der Fehleranalyse unerlässlich. Insgesamt ist Quanta 450 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Strukturen entwickelt wurde. Die monochromierte Elektronenkanone mit einer Punktgröße von 1 nm, einer kompletten Suite von SE-Detektoren, Software und einem digitalen Bildverarbeitungssystem machen es ideal für die Inspektion von Mikrostrukturen in Halbleiter-, Material- und Geräteproben.
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