Gebraucht PHILIPS / FEI Quanta 650 #293802395 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Quanta 650 ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich am besten für die Bildgebung und Analyse von Materialien im Nanoskalibereich eignet. Es verfügt über eine einzigartige Positionsauflösung von bis zu 0,9 nm und eine Sammlung spezialisierter Hardware- und Softwarewerkzeuge für nanoskalige Charakterisierungen. Die Vorrichtung verwendet die Prinzipien der Elektronenoptik, wobei Elektronen mit elektromagnetischen Linsen beschleunigt werden, die in einer Vakuumumgebung montiert sind. Dieser Elektronenstrahl wird dann auf die Oberfläche einer Probe gerichtet, wodurch die Oberflächentopographie, Zusammensetzung und Dichte einer Probe vergrößert beobachtet werden kann. FEI Quanta 650 gibt Einblick in die mikro- und nanoskalige Kontur der Probe sowie deren elementare Zusammensetzung. Das Gerät kann Vergrößerungen bis x800.000 erreichen, so dass außergewöhnlich detaillierte Messungen auch sehr kleiner baulicher Merkmale möglich sind. Neben der Bildgebung und Analyse unterstützt PHILIPS Quanta 650 eine Reihe möglicher Probenbehandlungen, darunter Probenmetallisierung, Ionenfräsen und Sputterbeschichtung. Durch Polieren und Sputterbeschichten der Probe können Benutzer verschiedene Merkmale messen und Bilder mit verbessertem Kontrast erzeugen. Quanta 650 verfügt über eine hochauflösende Digitalkamera, die es dem Benutzer ermöglicht, die Bilder ihrer Probe mit überlegener Klarheit und Detailtreue aufzunehmen. Es stehen eine Vielzahl von Bildverarbeitungswerkzeugen zur Verfügung, die eine Manipulation der Beispielbilder wie Zuschneiden, Maskieren und Skalieren ermöglichen. Kern des Geräts ist ein leistungsstarkes Computersystem. Seine Kernkomponenten ermöglichen eine schnellere Datenerfassung und effizientere Analysen der Probe. Es unterstützt auch eine breite Palette von erweiterten Steuerungssoftware-Paketen, um den SEM-Betrieb des Geräts zu automatisieren. Die Vielseitigkeit und Präzision von PHILIPS/FEI Quanta 650 machen es zu einem idealen Instrument für nanoskalige Anwendungen in einer Vielzahl von Branchen, von Forschung und Entwicklung bis hin zur Materialdiagnostik und Fehleranalyse. Die Kombination aus fortschrittlicher Hard- und Software garantiert zuverlässige und informative Ergebnisse bei der nanoskaligen Materialmessung.