Gebraucht PHILIPS / FEI Sirion 200 #293814372 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Sirion 200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungsmikroskop mit einer Vielzahl von bildgebenden Fähigkeiten und Analysefähigkeiten. Es ist die neueste Version der Sirion-Serie von Elektronenmikroskopen und verfügt über einen einzigartigen modularen Aufbau, der es dem Benutzer ermöglicht, das Mikroskop an die spezifischen Bildgebungs- und Analysebedürfnisse des Labors anzupassen. FEI Sirion 200 arbeitet in zwei Hauptmodi: Rasterelektron und Transmissionselektron. Im Rasterelektronenmodus werden Bilder durch Abtasten eines energiereichen Elektronenstrahls über die Probenoberfläche erzeugt. Die Elektronen interagieren mit der Eigenstruktur in der Probe und geben Signale zurück, die verstärkt und in ein Bild umgewandelt werden. Das Bild kann bei Vergrößerungen zwischen 10x und 250.000x aufgenommen werden und wird mit Auflösungen von bis zu zwei Nanometern angezeigt. Im Transmissionselektronenmodus durchläuft der Strahl die Probe und ermöglicht die Visualisierung sehr feiner struktureller Details. Der Strahl wird auf einen sehr kleinen Bereich fokussiert und durch eine dünne Probe in der Mikroskopstufe übertragen. Die übertragenen Elektronen bilden aufgrund der unterschiedlichen Dicken der Probenmaterialien ein Kontrastmuster, das mit einer Auflösung von bis zu einem Nanometer aufgelöst werden kann. PHILIPS Sirion 200 bietet auch eine Vielzahl von Analysefähigkeiten wie die Energiedispersive Spektroskopie (EDS), die zur chemischen Analyse der Probe verwendet werden kann; Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD), die zur Analyse der kristallographischen Struktur von Materialien verwendet werden kann; und elementares Mapping, mit dem die Verteilung von Elementen auf der Probe abgebildet werden kann. Sirion 200 ist mit vielen erweiterten Funktionen ausgestattet, wie z. B. einem digitalen Zeilenscan, der die Erfassung von Bildern in mehreren Winkeln für eine verbesserte 3D-Bildgebung ermöglicht; einen Hochempfindlichkeitsdetektor mit einem reduzierten Hintergrundrauschen; und eine hochmoderne Benutzeroberfläche, die einfach zu bedienen ist und es dem Benutzer ermöglicht, schnell und effizient durch das Mikroskop zu navigieren. PHILIPS/FEI Sirion 200 SEM ist das perfekte Instrument für jedes Labor, das ein leistungsstarkes Raster- und Transmissionselektronenmikroskop mit fortschrittlicher Bildanalyse und Mikrostrukturanalyse benötigt.