Gebraucht PHILIPS / FEI Sirion 200 #9267884 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9267884
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Type: 6634 / 17
Operating system: Windows NT
Stage: Fully automatic
Resolution: 1.2 nm at 30 kV
UHR Mode: 2,500x ~ 1,200,000x
SE Detector
BSE Detector
Control system
Ion pump
PC Table controller
Rotary pump
Sub image rack
Sub stage
IP Power rack.
PHILIPS/FEI Sirion 200 ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Beobachtung und Analyse der strukturellen Merkmale von Proben verwendet wird. Sein flexibles, benutzerfreundliches Design ermöglicht eine Vielzahl von Anwendungen, wie die Querschnittsbildgebung, die Analyse von Nanomaterialien und die Rasterelektronenmikroskopie (SEM) zur Bestimmung der Qualität unterschiedlichster Materialien. Dieses SEM ist mit einer Wolfram-Filament-Pistole und einer Art Elektronendetektor ausgestattet, die ausgezeichnete Helligkeit, Kontrast und Auflösung bietet. Die fortschrittliche Funktion der Pistole ermöglicht eine qualitativ hochwertige Abbildung von nanoskaligen Partikeln sowie Nanostrukturen. Auf diese Weise können Forscher die Textur, Zusammensetzung und andere Merkmale der von ihnen untersuchten Proben genau beurteilen. Dieses SEM ist auch in der Lage, sowohl große als auch kleine Proben zu sammeln, aufgrund seines hochentwickelten Probenwechselsystems. Auf diese Weise können Forscher eine Vielzahl von Proben mit unterschiedlichen Materialeigenschaften schnell und genau analysieren. FEI Sirion 200 ist auch mit einem computergestützten Bildanalysemodul ausgestattet, das eine dramatische Verbesserung der Bildnaht- und Bildanalysefähigkeiten markiert. Dieses Modul ist in der Lage, die elementare Zusammensetzung der Proben genau zu bestimmen und unterstützt somit die Bewertung der Struktur und Zusammensetzung der Proben. PHILIPS Sirion 200 verfügt auch über extrem leistungsfähige Umwelt- und elektrische Testfunktionen, so dass Forscher ihre Proben schnell auf Fehler oder Auffälligkeiten analysieren können. Sirion 200 verfügt auch über die Fähigkeit, in einer Hochvakuumumgebung zu arbeiten, was für bestimmte empfindliche Bildgebungs- und Analyseprozesse wichtig ist. Dieser Scanner ist auch mit einer Vielzahl anderer Funktionen ausgestattet, wie Dual-Beam-SEM-Bildgebung, Richtstrahl-SEM-Bildgebung, digitaler Zoom, 3D-Bildanalyse und Datenerfassung und -speicherung. Das Instrument hat die Fähigkeit, Funktionen zu speichern, so dass Benutzer leicht zurückrufen Arbeit, die gespeichert wurde. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Sirion 200 ein extrem leistungsstarkes und vielseitiges SEM, das in der Lage ist, detaillierte Bilder und Analysen einer Vielzahl von Proben bereitzustellen. Dank seiner benutzerfreundlichen und fortschrittlichen Funktionen ist es eine gute Wahl für Forscher und Wissenschaftler, die ihre Proben schnell und genau analysieren müssen.
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