Gebraucht PHILIPS / FEI Sirion #9039275 zu verkaufen
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ID: 9039275
Scanning Electron Microscope (SEM)
Includes:
(2) Modes: Ultra High Resolution (UHR) and High Resolution (HR)
Complete range of specimen holders
SE and BSE imaging
Specifications:
Resolution: 1.5 nm
HT: 500V~30kV
Resolution: 1.5nm
Vacuum: High Vacuum
Magnification: 36x~800kx
Tilt: -15° to +75°
Rotation: 0º to 360º.
PHILIPS/FEI Sirion ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses vielseitige Instrument soll Forschern detaillierte Bilder und Präzisionsanalysen zu biologischen Proben, Metallen, Polymeren und anderen Materialien im Nanometermaßstab liefern. FEI Sirion ist in der Lage, Bilder und Daten mit bis zu 15-facher Präzision eines Lichtmikroskops zu erzeugen, was es zu einem wertvollen Werkzeug für jedes Forschungslabor macht. Diese sem ist mit einer hochauflösenden Galileo III Elektronenoptiksäule ausgestattet, die bis zu 15 nm Probengrößen abtasten kann. Die Säule ist für einen optimalen Wirkungsgrad ausgelegt und bietet dennoch einen hohen Freiheitsgrad in Bezug auf Fokus, Strahllage und Anregungsenergien. Das Gerät läuft auf einem selbstkorrigierenden Softwarepaket, das eine Vielzahl von bildgebenden Einstellungen ermöglicht, um hochauflösende 3D-Bilder von Proben zu erzeugen. PHILIPS Sirion verfügt über ein 6-Achsen-Piezostadium, mit dem die Probe während der Bildgebung eingestellt werden kann. Dies ermöglicht die Feinabstimmung der Bildsteuerung, um die höchsten Auflösungsergebnisse zu erzielen. Das Instrument verfügt außerdem über einen motorisierten Kippeinsatz zur hochpräzisen Bühnenpositionierung und eine große Probenkammer, die eine breite Palette von Probengrößen aufnehmen kann. Zusätzlich ist das Instrument mit einer optionalen Kalorimeterausrüstung ausgestattet, mit der der Anwender die Probentemperatur während der Bildgebung messen kann. Sirion zeigt auch ein fortgeschrittenes Hochleistungsniedrigdosisbildaufbereitungssystem, das entworfen wird, um Bilder zu gewinnen, ohne feinen Proben Schaden zu verursachen. Das Gerät beinhaltet eine automatisierte Zuführmaschine, die Imaging-Parameter automatisch anpassen kann, um sich an unterschiedliche Probenbedingungen anzupassen. Das Instrument verfügt auch über eine Reihe von In-situ-Techniken zur weiteren Analyse, einschließlich EBSD, EDX und PED. Dieses vielseitige Rasterelektronenmikroskop ist eines der leistungsstärksten Instrumente auf dem Markt. Es liefert hochpräzise Bilder und Daten, so dass Forscher ihre Proben auf der Nanometerskala genau analysieren können. PHILIPS/FEI Sirion ist mit seinen vielfältigen Funktionen die perfekte Wahl für jedes Forschungslabor.
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