Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293639792 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin ist ein Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende bildgebende Funktionen für Forschung und industrielle Anwendungen bietet. FEI Tecnai 20 S-Twin ist ein Dual-Strahl-Instrument, das es Benutzern ermöglicht, sowohl Bildgebung als auch Analyse an den gleichen Proben durchzuführen, wobei der Abtaststrahl hochauflösende Bilder erzeugen kann und der Analysestrahl für Analysetechniken wie die Elektronen-Rückstreuung optimiert ist. Mit PHILIPS Tecnai 20 S-Twin können Anwender eine Vielzahl von Bildverarbeitungsmodi nutzen, darunter Hochauflösung und Niedrigvakuum (< 4x10-3 Pa). Tecnai 20 S-Twin hat eine Vielzahl von einstellbaren Parametern, die eine hochauflösende Abbildung von Proben ermöglichen. Dazu gehören eine Pixelabtastrate von 1 nm und eine maximale Arbeitsvergrößerung von bis zu 400kX. Zusätzlich können mehrere Filter eingesetzt werden, einschließlich Spektral, Phase und Breitband. Darüber hinaus ist PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin mit einer Reihe von Strahlsteuerungsmerkmalen ausgestattet, wie Ablenksteuerung, Positionssteuerung und Ablenkstabilisierer. Dieses Gerät ermöglicht es dem Anwender auch, dreidimensionale Bilder mittels Elektronentomographie zu erzeugen. Für die Probenmanipulation verfügt der FEI Tecnai 20 S-Twin über ein 6-achsig motorisiertes Probenzuführsystem sowie eine Kipp- und Deklinationsregelung. Zusätzlich stehen Funktionen wie automatische Positionskennzeichnung und interaktive Visualisierung der Probe zur Verfügung. PHILIPS Tecnai 20 S-Twin ist auch mit fortgeschrittenen KI-Analyse-Algorithmen für die Analyse der Ergebnisse ausgestattet. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten bietet Tecnai 20 S-Twin auch eine Vielzahl von Probenvorbereitungsmöglichkeiten. Dazu gehören mehrere Probenhalter und eine automatisierte Probenauswahl und Beladung, um mögliche Probenschäden zu reduzieren. Darüber hinaus stehen eine Reihe von Probenvorbereitungstechniken zur Verfügung, wie z.B. Kritikpunkttrocknung, chemische Reinigung oder Ionenmahlung. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen eignet. Mit seinen einstellbaren Parametern und Mustermanipulationsmerkmalen ermöglicht dieses Instrument eine detaillierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien mit hoher Genauigkeit.