Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293812127 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit der einzigartigen Fähigkeit, bildgebende Fähigkeiten sowohl auf Subnanometer als auch auf Makroebene bereitzustellen. Dieses Mikroskop ist sowohl mit einem In-Linsen-Thermo-Schwerkraftobjektiv als auch mit einem hochauflösenden Umgebungs-Rasterelektronendetektor ausgestattet. Das In-Linsen-Thermo-Schwerkraftobjektiv bietet eine hervorragende Auflösung im nahen bis mittleren Sichtfeld, während der Umgebungs-Rasterelektronendetektor die Beobachtung von Nanostrukturen und Oberflächenmorphologie ermöglicht. Diese Spitzentechnologie ermöglicht es Anwendern, eine Fülle von morphologischen Merkmalen sowohl innerhalb biologischer als auch anorganischer Gegenstände zu beobachten. Das SEM bietet eine Reihe von Probenuntersuchungsfunktionen, die Helligkeits- und Dunkelfeldbildgebung, variablen Druckmodus, Kathodolumineszenz und rückgestreute Elektronendetektoren umfassen. Es verfügt auch über eine automatisierte Dual-Tilt-Zugriffsfunktion, mit der Benutzer Fehlstellungen in der Ansichtsebene dynamisch korrigieren können. Diese erweiterte Funktion ist besonders nützlich, wenn gebogene oder unregelmäßige Materialien abgebildet werden. FEI Tecnai 20 S-Twin ist kompatibel mit doppelseitigen Spannfuttern und den neuesten Probenhaltern, wie Substraten und Dummies. Diese Flexibilität ermöglicht es Ihnen, eine Vielzahl von Untersuchungstechniken mit verschiedenen Mustertypen durchzuführen. PHILIPS Tecnai 20 S-Twin verfügt auch über leistungsstarke Softwarefunktionen wie Bildanalyse und automatische Mustererkennung. Mit seinen fortschrittlichen Bildverarbeitungstools und der Möglichkeit, Bilddaten zu speichern und zu verfolgen, können Sie Bildinformationen schnell bearbeiten und analysieren. Seine Software ist auch geschickt bei der Konfiguration der Parameter des Mikroskops, so dass Sie seine Bildgebungsfunktionen zu maximieren. Tecnai 20 S-Twin ist ein ideales Werkzeug für die mikroskopische Forschung, das sowohl hochauflösende Bilder als auch eine Reihe von Analysewerkzeugen erfordert. Seine überlegene Leistung und Flexibilität machen es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, einschließlich Oberflächenmesstechnik, Nanoproduktion und Halbleiterdefektanalyse. Dieses hochmoderne Mikroskop bietet Anwendern die hochwertigen bildgebenden Funktionen, die sie benötigen, um schnell und präzise zuverlässige Ergebnisse zu erzielen.